[发明专利]测试方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，特别涉及一种测试方法及装置。

背景技术

随着同类产品间行业的竞争日益激烈，如何生产出高性价比的产品成为各大厂商关注的焦点。因此，厂家在对产品投入大批量生产之前，还需对产品进行各项性能指标的测试，即通过自动化的测试工具模拟多种正常、峰值等来对产品的各项性能指标进行测试。进一步地，性能测试还可结合压力测试进行，来获得该产品能提供的最大服务级别的服务。

现有技术中对产品性能指标的测试都是在正常测试环境中进行的，即测试时完全按照产品的操作流程进行模拟，测试出该产品能提供的最大服务级别的服务。

在实现本发明的过程中，发明人发现现有技术至少存在以下缺点：

仅仅按照产品的操作流程进行测试，测试的力度不够，影响产品的稳定性，如果用户没有按照产品的操作流程进行操作，可能会导致产品出现异常，影响用户的体验。

发明内容

本发明实施例提供了一种测试方法及装置，以提高被测对象的稳定性。所述技术方案如下：

一方面，提供了一种测试方法，所述方法包括：

获取被测对象的测试用例；

从所述测试用例包含的操作中随机选取操作；

根据随机选取的操作生成待测操作；

根据所述待测操作对所述被测对象进行测试。

其中，根据随机选取的操作生成待测操作，包括：

通过随机模型将所述随机选取的操作按照预设的顺序组成串行执行的待测操作。

或者，根据随机选取的操作生成待测操作，包括：

通过随机模型将所述随机选取的操作按照预设的操作并发矩阵生成并发执行的待测操作。

具体地，根据所述待测操作对所述被测对象进行测试，包括：

单独使用所述待测操作对所述被测对象进行测试；或者，

在所述被测对象的测试过程中加入所述待测操作，对所述被测对象进行干扰测试。

进一步地，根据所述待测操作对所述被测对象进行测试，包括：

持续根据所述待测操作对所述被测对象进行测试，直到达到预设的次数或预设的时长。

另一方面，还提供了一种测试装置，所述装置包括：

获取模块，用于获取被测对象的测试用例；

选取模块，用于从所述获取模块获取的所述测试用例包含的操作中随机选取操作；

生成模块，用于根据所述选取模块随机选取的操作生成待测操作；

测试模块，用于根据所述生成模块生成的所述待测操作对所述被测对象进行测试。

所述生成模块，用于通过随机模型将所述随机选取的操作按照预设的顺序组成串行执行的待测操作。

所述生成模块，用于通过随机模型将所述随机选取的操作按照预设的操作并发矩阵生成并发执行的待测操作。

所述测试模块，包括：

第一测试单元，用于单独使用所述待测操作对所述被测对象进行测试；或者，

第二测试单元，用于在所述被测对象的测试过程中加入所述待测操作，对所述被测对象进行干扰测试。

所述测试模块，用于持续根据所述待测操作对所述被测对象进行测试，直到达到预设的次数或预设的时长。

本发明实施例提供的技术方案的有益效果是：

通过从测试用例包含的操作中随机选取操作，根据随机选取的操作生成待测操作，并根据待测操作对被测对象进行测试，可测试出被测对象在未知情况下的处理盲点，以方便开发人员对被测对象进行改进，提高了测试效果以及被测对象的质量，从而提升用户的体验。

通过随机模型将随机选取的操作按照预设的顺序组成串行执行的待测操作，或者，通过随机模型将随机选取的操作按照预设的操作并发矩阵生成并发执行的待测操作，可加大测试力度，提高测试效率；另外，单独使用所述待测操作对所述被测对象进行测试，可测试出被测对象在未知情况下的性能，从而提高被测对象的稳定性；在被测对象的测试过程中加入该待测操作，对被测对象进行干扰测试，可测试出被测对象抗干扰的性能，从而提高被测对象的健壮性。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明实施例一提供的一种测试方法流程图；

图2是本发明实施例二提供的一种测试方法流程图；