[发明专利]调制方式检测方法及终端

权利要求书

1.一种调制方式检测方法，其特征在于，包括：

对调制信号的实部绝对值和/或虚部绝对值进行统计，生成所述调制信号的直方图，所述直方图包括至少一个峰值；

根据位于以所述直方图的至少一个峰值位置为中心，并以预设聚类半径为半径的范围之内的样点数，确定所述直方图对应的每个调制方式的聚类点，所述预设聚类半径为预先设置的所述直方图对应的每个调制方式的聚类半径；

根据确定的所述聚类点，计算获得所述直方图对应的每个调制方式的聚类函数值；

根据所述直方图对应的所有调制方式的聚类函数值，确定所述调制信号所采用的调制方式。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据位于以所述直方图的至少一个峰值位置为中心，并以预设聚类半径为半径的范围之内的样点数，确定所述直方图对应的每个调制方式的聚类点，包括：

当位于以所述峰值位置为中心，并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数，乘以预设系数大于或等于总样点数除以所述直方图对应的每个调制方式的理论聚类点数时，或者，当位于以所述峰值位置为中心，并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数，与位于以所述直方图的最大峰值位置为中心，并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数的比值大于或等于预设比值时，则确定所述峰值位置是所述直方图对应的每个调制方式的聚类点；或者

当位于以所述峰值位置为中心，并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数，乘以预设系数小于总样点数除以所述直方图对应的每个调制方式的理论聚类点数时，或者，当位于以所述峰值位置为中心，并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数，与位于以所述直方图的最大峰值位置为中心，并以所述预设聚类半径为半径的范围之内的样点数的比值小于预设比值时，则确定所述峰值位置不是所述直方图对应的每个调制方式的聚类点。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述对调制信号的实部绝对值和/或虚部绝对值进行统计，生成所述调制信号的直方图，所述直方图包括至少一个峰值，包括：

当信噪比大于预先设置的阈值时，对调制信号的实部绝对值和/或虚部绝对值进行统计，生成所述调制信号的直方图，所述直方图包括至少一个峰值。

4.根据权利要求1～3任一权利要求所述的方法，其特征在于，所述根据所述直方图对应的所有调制方式的聚类函数值，确定所述调制信号所采用的调制方式，包括：

确定所述直方图对应的所有调制方式的聚类函数值中值最大的聚类函数值；

根据确定的所述聚类函数值对应的调制方式的理论聚类点位置和对应的直方图的峰值位置，确定所述调制信号所采用的调制方式。

5.一种调制方式检测方法，其特征在于，包括：

对调制信号的实部绝对值和/或虚部绝对值进行统计，生成所述调制信号的直方图，所述直方图包括至少一个峰值；

根据所述直方图的至少一个峰值，确定所述直方图对应的每个调制方式的聚类点；

根据确定的所述聚类点，计算获得所述直方图对应的每个调制方式的聚类函数值；

确定所述直方图对应的所有调制方式的聚类函数值中值最大的聚类函数值；

根据确定的所述聚类函数值对应的调制方式的理论聚类点位置和对应的直方图的峰值位置，确定所述调制信号所采用的调制方式。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述对调制信号的实部绝对值和/或虚部绝对值进行统计，生成所述调制信号的直方图，所述直方图包括至少一个峰值，包括：

当信噪比大于预先设置的阈值时，对调制信号的实部绝对值和/或虚部绝对值进行统计，生成所述调制信号的直方图，所述直方图包括至少一个峰值。

7.根据权利要求5或6所述的方法，其特征在于，所述根据所述直方图的至少一个峰值，确定所述直方图对应的每个调制方式的聚类点，包括：

根据位于以所述直方图的至少一个峰值位置为中心，并以预设聚类半径为半径的范围之内的样点数，确定所述直方图对应的每个调制方式的聚类点，所述预设聚类半径为预先设置的所述直方图对应的每个调制方式的聚类半径。