[发明专利]发光二极管灯条检测方法

权利要求书

1.一种发光二极管灯条检测方法，其包括以下步骤：

提供一个电路板，沿所述电路板的延伸方向依次排列有多个发光二极管；

在电路板的延伸方向设置一条基准线，分别确定各个发光二极管相对于基准线的偏差值；

提供第一平板和第二平板，第一平板和第二平板平行于基准线设置且与电路板的侧边相接触；

确定基准线与第一平板的距离，及确定基准线与第二平板的距离；以及

确定各个发光二极管相对于电路板中心位置的偏差值，所述偏差值通过以下公式计算W0-（W1-W2）/2，其中，W0代表各个发光二极管相对于基准线的偏差值；W1代表基准线与第一平板之间的距离；W2代表基准线与第二平板之间的距离。

2.如权利要求1所述的发光二极管灯条检测方法，其特征在于，所述电路板具有第一光学定位点和第二光学定位点，所述基准线由经过第一光学定位点和第二光学定位点之间的直线确定。

3.如权利要求2所述的发光二极管灯条检测方法，其特征在于，所述第一光学定位点和第二光学定位点分别位于电路板的两侧，所述多个发光二极管位于第一光学定位点和第二光学定位点之间。

4.如权利要求3所述的发光二极管灯条检测方法，其特征在于，所述电路板具有相对设置的第一侧边和第二侧边以及相对设置的第三侧边和第四侧边，第三侧边和第四侧边连接在第一侧边和第二侧边之间，所述第一平板与第一侧边相接触，所述第二平板与第二侧边相接触。

5.如权利要求4所述的发光二极管灯条检测方法，其特征在于，所述第一光学定位点位于第一侧边的中间位置，所述第二光学定位点位于第二侧边的中间位置。

6.如权利要求4所述的发光二极管灯条检测方法，其特征在于，所述第一侧边向外凸出，第一平板仅接触第一侧边的与基准线距离最远的一点；所述第二侧边为直线形状，第二平板紧贴第二侧边设置。

7.如权利要求4所述的发光二极管灯条检测方法，其特征在于，所述第一侧边为直线形状，第一平板紧贴第一侧边设置；所述第二侧边为向外凸出，第二平板板仅接触第二侧边的与基准线距离最远的一点。

8.如权利要求4所述的发光二极管灯条检测方法，其特征在于，所述第一侧边向外凸出，第一平板仅接触第一侧边的与基准线距离最远的一点；所述第二侧边为向外凸出，第二平板板仅接触第二侧边的与基准线距离最远的一点。