[发明专利]特大型齿轮的姿态调整方法及设备

说明书

技术领域

本发明涉及三维测量技术领域，特别涉及一种特大型齿轮的姿态调整方法及设备。 

背景技术

在现代制造、高精度测量、军用以及民用生产制造等各个技术领域，都需要对测量设备或测量仪器(例如三维测量平台)进行姿态调整，从而将测量设备或测量仪器调整到指定的角度和位置，以提高对被测对象测量精度，从而满足特定测试的指标。 

现有技术中的姿态调整方式有基于三点或多点支承式调整、多联杆式调整、多轴并联式调整、链条链轮式调整等多种方式。对于特大型齿轮，由于重量大、体积大，现有技术通过采用调整三维测量平台的测量基准面来适应特大型齿轮的测量位置，而三维测量平台的重量大，若频繁移动三维测量平台，则会降低三维测量平台对特大型齿轮的测量精度。 

发明内容

本发明的目的在于提供一种特大型齿轮的姿态调整方法及设备，通过调整三维测量平台提高特大型齿轮在位测量的测量精度。 

本发明实施例提供一种特大型齿轮的姿态调整方法，包括： 

获取特大型齿轮上的第一设定特征位置的第一空间位置坐标对和三维测量平台上的第二设定特征位置的第二空间位置坐标对； 

获取所述第一空间位置坐标对和所述第二空间位置坐标对在姿态调整平台上端面上各自对应的第一投影坐标对和第二投影坐标对； 

根据所述第一投影坐标对和第二投影坐标对获取所述姿态调整平台待调整的旋转信息； 

在根据所述旋转信息调整所述姿态调整平台后，获取所述姿态调整平台的支撑轴各自对应的平移距离； 

根据所述姿态调整平台的支撑轴的平移距离调整所述姿态调整平台的支撑轴，使得所述姿态调整平台的上端面与所述特大型齿轮的上端面平行。 

本发明实施例还提供一种特大型齿轮的姿态调整设备，包括： 

第一获取模块，用于获取特大型齿轮上的第一设定特征位置的第一空间位置坐标对和三维测量平台上的第二设定特征位置的第二空间位置坐标对； 

第二获取模块，用于获取所述第一空间位置坐标对和所述第二空间位置坐标对在姿态调整平台上端面上各自对应的第一投影坐标对和第二投影坐标对； 

第三获取模块，用于根据所述第一投影坐标对和第二投影坐标对获取所述姿态调整平台待调整的旋转信息； 

第四获取模块，用于在根据所述旋转信息调整所述姿态调整平台后，获取所述姿态调整平台的支撑轴各自对应的平移距离； 

第一调整模块，用于根据所述姿态调整平台的支撑轴的平移距离调整所述姿态调整平台的支撑轴，使得所述姿态调整平台的上端面与所述特大型齿轮的上端面平行。 

本发明提供的特大型齿轮的姿态调整方法及设备，通过姿态调整平台根据三维测量平台对特大型齿轮进行测量的位置，在三维测量平台的旋转轴旋转之后，通过控制设备根据姿态调整平台旋转后的空间位置和旋转角度控制驱动设备调整姿态调整平台的空间位置，姿态调整平台进一步调整三维测量平台的测量臂和测头方向，从而使得整个特大型齿轮在位测量系统根据特大型齿轮的位置实现小角度、快速的测量，提高特大型齿轮在位测量的测量精度和测量效率。 

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。 

图1为本发明实施例所适用的特大型齿轮的姿态调整系统的结构示意图； 

图2为本发明特大型齿轮的姿态调整方法一个实施例的流程示意图； 

图3为本发明特大型齿轮的姿态调整方法又一个实施例的流程示意图； 

图4为本发明特大型齿轮的姿态调整设备一个实施例的结构示意图； 

图5为本发明特大型齿轮的姿态调整设备又一个实施例的结构示意图。 

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。 

本发明实施例中所述的特大型齿轮是指一些参数、尺寸、重量超出常规情况下的齿轮，主要是取决于齿轮的直径，其中，直径大于3000毫米(mm)的齿轮通常称为特大型齿轮。