[发明专利]一种测量磁致伸缩系数的新方法

权利要求书

1.一种测量磁致伸缩系数的新方法，其特征在于：以非平衡电桥为基础，两个桥臂固定为等值电阻，剩余的两个桥臂一个用作初值测量，另一个作为实验测量，在测量处用双电阻，一个用来等值定标，一个用来连接测量的材料，测出材料上所贴应变片的阻值，接着进行定标，将材料置入磁场中，不断变化磁场，记录每次检流计的示数变化，将其和上面的定标斜率一块代入以此实验电路特点推导出来的磁致伸缩系数公式中，最后将每个结果与对应的磁场对应起来，的出磁致伸缩材料的磁致伸缩系数。

2.根据权利要求1要求所属的一种测量磁致伸缩系数的新方法，其特征是：R₁和R₄可以为定值电阻，也可以为电阻箱。

3.根据权利要求1要求所属的一种测量磁致伸缩系数的新方法，其特征是：测出材料上所贴应变片的阻值后，将与其处于同位置的电阻箱调节到应变片阻值，接着一直向一个方向调节电阻箱。

4.根据权利要求1要求所属的一种测量磁致伸缩系数的新方法，其特征是：具有推导所得的公式                                                ，用此公式得出的磁致伸缩系数λ与磁感应强度B的关系曲线。