[发明专利]筒形锻件斜入射超声波探伤方法

权利要求书

1.一种筒形锻件斜入射超声波探伤方法，使用超声波探伤装置对筒形锻件进行探测，其特征在于，采用以下装置：入射角6度小角度纵波斜探头、入射角6度纵波对比试块、入射角10度纵波对比试块、折射角34度横波对比试块和折射角45度横波对比试块，所述入射角6度纵波对比试块、入射角10度纵波对比试块、折射角34度横波对比试块和折射角45度横波对比试块均为圆筒形，所述入射角6度纵波对比试块的内径与外径之比为0.23±0.01，所述入射角10度纵波对比试块的内径与外径之比为0.38±0.01，所述折射角34度横波对比试块的内径与外径之比为0.56±0.01，所述折射角45度横波对比试块的内径与外径之比为0.71±0.01，所述入射角6度纵波对比试块、入射角10度纵波对比试块、折射角34度横波对比试块和折射角45度横波对比试块的内壁表面上均具有至少一个人工伤，所述人工伤为矩形槽或V形槽，所述矩形槽或V形槽沿对比试块的周向设置并平行于对比试块的轴线，

包括以下步骤：

a、从所述入射角6度纵波对比试块中选择探伤灵敏度最高的对比试块，将所述入射角6度小角度纵波斜探头放置在选出的对比试块上制作DAC振幅参考线的第一点，并进行探伤灵敏度标定；

b、从所述入射角10度横波对比试块中选择与步骤a中对比试块外径相同的对比试块，将所述入射角6度小角度纵波斜探头放置在选出的对比试块上制作DAC振幅参考线第二点；

c、从所述折射角34度横波对比试块中选择与步骤a中对比试块外径相同的对比试块，将所述入射角6度小角度纵波斜探头放置在选出的对比试块上制作DAC振幅参考线第三点；

d、从所述折射角45度横波对比试块中选择与步骤a中对比试块外径相同的对比试块，将所述入射角6度小角度纵波探头放置在选出的对比试块上制作DAC振幅参考线第四点；

e、穿过上述DAC振幅参考线的四点，建立DAC振幅参考线；

f、在筒形锻件上，使用所述入射角6度小角度纵波探头对所述筒形锻件进行探伤扫查，提高所述探伤灵敏度作为探伤扫查灵敏度，使用所述DAC振幅参考线，记录单个缺陷回波超过DAC振幅参考线或者两个以上缺陷回波超过DAC振幅参考线的50%的指示；

g、对缺陷回波达到步骤e记录的缺陷信号的工件判定为不合格。

2.如权利要求1所述的筒形锻件斜入射超声波探伤方法，其特征在于：步骤a中所述的探伤灵敏度标定是以选出的对比试块缺陷的第一次反射波的80%进行标定。

3.如权利要求1所述的筒形锻件斜入射超声波探伤方法，其特征在于，所述矩形槽和V形槽的切割深度为对比试块壁厚的3%或者6.4mm中的较小者，所述切割深度的公差为±0.03mm，所述矩形槽和V形槽的槽长为25.4mm±0.38mm。

4.如权利要求1所述的筒形锻件斜入射超声波探伤方法，其特征在于，所述矩形槽和V形槽的宽度为深度的两倍且最大宽度为3.2mm。

5.如权利要求1所述的筒形锻件斜入射超声波探伤方法，其特征在于，所述入射角6度纵波对比试块、入射角10度纵波对比试块、折射角34度横波对比试块和折射角45度横波对比试块的轴向长度大于等于50mm，所述入射角6度纵波对比试块、入射角10度纵波对比试块、折射角34度横波对比试块和折射角45度横波对比试块的人工伤均位于对比试块的轴向中部。

6.如权利要求1所述的筒形锻件斜入射超声波探伤方法，其特征在于，所述入射角6度纵波对比试块、入射角10度纵波对比试块、折射角34度横波对比试块和折射角45度横波对比试块的外壁表面上具有与内壁表面的人工伤相对应的人工伤，其中外壁表面的人工伤与内壁表面的人工伤大小形状均相同。

7.如权利要求1所述的筒形锻件斜入射超声波探伤方法，其特征在于：步骤f中所述的探伤扫查灵敏度是在所述探伤灵敏度的基础上提高4dB。