[发明专利]立体图像显示测试装置及方法有效

专利信息
申请号: 201210127641.4 申请日: 2012-04-27
公开(公告)号: CN102637399A 公开(公告)日: 2012-08-15
发明(设计)人: 陶宇虹 申请(专利权)人: 天马微电子股份有限公司
主分类号: G09G3/00 分类号: G09G3/00;G01R31/02
代理公司: 深圳汇智容达专利商标事务所(普通合伙) 44238 代理人: 潘中毅
地址: 518000 *** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 立体 图像 显示 测试 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种立体图像显示测试装置,其特征在于,包括:

至少一个源极信号组,每个源极信号组均设置一个导电测试盘,所述导电测试盘与所述源极信号组的信号线电性连接;

至少一个栅极信号组,每个栅极信号组均设置一个导电测试盘,所述导电测试盘与所述栅极信号组的信号线电性连接。

2.根据权利要求1所述的立体图像显示测试装置,其特征在于:所述源极信号组的数量与测试图像一个水平周期的子像素数量相等。

3.根据权利要求1所述的立体图像显示测试装置,其特征在于:所述栅极信号组的数量与测试图像一个垂直周期的子像素数量相等。

4.根据权利要求1所述的立体图像显示测试装置,其特征在于:所述导电测试盘包括源极导电测试盘与栅极导电测试盘,所述源极导电测试盘与所述源极信号组的信号线电性连接,所述栅极导电测试盘与所述栅极信号组的信号线电性连接。

5.一种立体图像显示测试方法,其特征在于,包括以下步骤:

将源极信号划分为至少一个源极信号组,每个源极信号组均设置一个导电测试盘;

将栅极信号划分为至少一个栅极信号组,每个栅极信号组均设置一个导电测试盘;

通过所述导电测试盘进行测试。

6.根据权利要求5所述的立体图像显示测试方法,其特征在于,每个源极信号组均设置一个导电测试盘包括以下步骤:

划分源极信号组的数量与测试图像一个水平周期的子像素数量相等;

每个源极信号组均设置一个源极导电测试盘;

所述源极导电测试盘与所述源极信号组的信号线电性连接。

7.根据权利要求5所述的立体图像显示测试方法,其特征在于,每个栅极信号组均设置一个导电测试盘包括以下步骤:

划分栅极信号组的数量与测试图像一个垂直周期的子像素数量相等;

每个栅极信号组均设置一个栅极导电测试盘;

所述栅极导电测试盘与所述栅极信号组的信号线电性连接。

8.根据权利要求5所述的立体图像显示测试方法,其特征在于,通过所述导电测试盘进行测试包括以下步骤:

依次开启每个栅极信号组所设置的导电测试盘的电压;

依次点亮至少一个子像素,;

观察所述点亮子像素,以获得检测结果。

9.根据权利要求8所述的立体图像显示测试方法,其特征在于,依次开启每个栅极信号组所设置的导电测试盘的电压包括:

若为NPN型三极管,则所述栅极信号组所设置的导电测试盘依次开启高电平;

若为PNP型三极管,则所述栅极信号组所设置的导电测试盘依次开启低电平。

10.根据权利要求9所述的立体图像显示测试方法,其特征在于,依次点亮至少一个子像素包括以下步骤:

源极信号组所设置的导电测试盘施加与公共电极相反的电压以点亮子像素;

源极信号组所设置的导电测试盘施加于公共电极相同的电压以关闭子像素。

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