[发明专利]测量截止波长的方法

权利要求书

1.一种测量测试光纤的高阶模的截止波长的方法，所述方法包括：

第一步，测量从光源输出的光的功率谱P1(λ)[dB]；

第二步，当从所述光源输出的光入射到以允许曲率在纵向上变化的形状放置的所述测试光纤的一端时，测量从所述测试光纤的另一端发出的光的功率谱P2(λ)[dB]；

第三步，获取表示所述功率谱P2(λ)与所述功率谱P1(λ)之间的差异的差光谱P(λ)；以及

第四步，基于所述差光谱P(λ)获取所述测试光纤的高阶模的截止波长。

2.根据权利要求1所述的测量测试光纤的高阶模的截止波长的方法，其中，

所述第四步包括：

第一子步，获取近似表达式aλ+b[dB]，所述表达式表示所述差光谱P(λ)的如下直线部分：所述直线部分从所述差光谱P(λ)为最小值的点开始朝较长波长侧的方向延伸；以及

第二子步，基于所述差光谱P(λ)与表达式aλ+b+0.1[dB]所表示的直线相交的点处的波长，获取所述测试光纤的高阶模的截止波长。

3.根据权利要求1所述的测量测试光纤的高阶模的截止波长的方法，其中，

在第二步中，所述允许曲率在纵向上变化的形状是螺线形状。

4.根据权利要求1或3所述的测量测试光纤的高阶模的截止波长的方法，其中，

在第二步中，所述允许曲率在纵向上变化的形状具有最小曲率和最大曲率，从而在用于测量功率谱P2(λ)的波长范围内，差光谱P(λ)min的振动波形相对于差光谱P(λ)max的振动波形偏移半个周期或更多，所述差光谱P(λ)min是在以所述最小曲率卷绕所述测试光纤的全部长度时获得的，所述差光谱P(λ)max是在以所述最大曲率卷绕所述测试光纤的全部长度时获得的。

5.根据权利要求1或3所述的测量测试光纤的高阶模的截止波长的方法，其中，

在第二步中对所述测试光纤进行定位，从而使得在经由所述测试光纤传输的LP11模的截止波长处的弯曲损耗为0.1dB或更少。

6.根据权利要求1或3所述的测量测试光纤的高阶模的截止波长的方法，其中，

在波长为1550nm、曲率半径为7.5mm的情况下，所述测试光纤的弯曲损耗为0.5dB/圈或更少。