[发明专利]电路板测试方法和系统

权利要求书

1.一种电路板测试方法，其特征在于，包括：

在系统对多个测试设备中的每个测试设备分配了线程的情况下，所述每个测试设备在各自所分配线程的控制下，对该测试设备对应的电路板进行测试，其中，所述多个测试设备以并行的方式进行测试。

2.根据权利要求1所述的电路板测试方法，其特征在于，每个测试设备包括多个测试装置，所述多个测试装置用于对电路板进行不同的测试。

3.根据权利要求2所述的电路板测试方法，其特征在于，所述多个测试装置包括在线测试仪ICT和功能测试仪FCT。

4.根据权利要求3所述的电路板测试方法，其特征在于，在每个测试设备对一电路板进行测试时，先由该测试设备的ICT进行测试，之后由该测试设备的FCT进行测试，其中，在该测试设备的ICT测试完成后，由该测试设备的切换开关板将该测试设备的ICT与上位机系统的连接关断，并将该测试设备的FCT与上位机系统的连接导通，且在FCT测试完成后，该FCT的放电电路对该电路板进行放电。

5.根据权利要求2所述的电路板测试方法，其特征在于，在每个测试设备对一电路板进行测试时，根据预定顺序调用该测试设备的多个测试装置对该电路板进行测试。

6.一种电路板测试系统，其特征在于，包括：

多个测试设备，用于对电路板进行测试；

处理器，用于创建线程，并通过运行所创建的线程控制所述多个测试设备对电路板进行测试，其中，所述处理器控制所述多个测试设备以并行的方式进行测试。

7.根据权利要求6所述的电路板测试系统，其特征在于，每个测试设备包括多个测试装置，所述多个测试装置用于对电路板进行不同的测试，每个测试设备包括线测试仪ICT和功能测试仪FCT。

8.根据权利要求7所述的电路板测试系统，其特征在于，每个ICT包括：

多路电源，用于对电路板的预定测试位置施加所要求的电平；

AD采集电路，用于采集电路板的被测元件输出的电压和/或电流；

信号调理及放大电路，用于对来自所述AD采集电路的采集结果进行信号格式调整，之后发送给与所述多个测试装置连接的上位机系统。

9.根据权利要求7所述的电路板测试系统，其特征在于，每个FCT包括：

电源模块，用于给电路板的被测元件提供工作电源；

数字IO模块，用于对电路板的被测元件提供信号输入；

信号源模块，用于提供参考信号；

信号采集模块，用于将所述被测元件基于所述信号输入而输出的结果与来自所述信号源模块的参考信号进行对比，并将对比结果输出给与所述多个测试装置连接的上位机系统；

放电模块，用于在该FCT对一电路板测试完成后，对该电路板进行放电操作；

通讯模块，用于实现该FCT与被测电路板之间的通信。

10.根据权利要求6所述的电路板测试系统，其特征在于，每个测试设备进一步包括：

切换开关板，与所述FCT和ICT连接，并且连接至所述上位机系统，用于在每个测试设备对一电路板进行测试时，控制先由该测试设备的ICT进行测试，之后由该测试设备的FCT进行测试，其中，在该测试设备的ICT测试完成后，由该测试设备的切换开关板将该测试设备的ICT与上位机系统的连接关断，并将该测试设备的FCT与上位机系统的连接导通。