[发明专利]正电子发射断层扫描仪及其中的符合判选方法

权利要求书

1.一种正电子发射断层扫描仪中的符合判选方法，所述正电子发射断层扫描仪包括探测环，所述探测环由多个探测器围成，所述符合判选方法包括：

对每个探测器与其对面的各个探测器是否为相关探测器进行判断，并根据各判断结果获得相关数据，其中如果两个探测器所探测的单事例的时间差在符合时间窗以内，则该两个探测器为相关探测器，其中，任一探测器对面的探测器是指：所述探测环中以该任一探测器为圆心的预定角度的扇形区中的各探测器；以及

根据所述相关数据来判断两个相关探测器之间是否唯一相关，并将唯一相关的两个探测器所探测的单事例判定为符合事例。

2.如权利要求1所述的正电子发射断层扫描仪中的符合判选方法，其特征在于，在对每个探测器与其对面的各个探测器是否为相关探测器进行判断以获得相关数据的步骤中，一个探测器与另一个探测器是否为相关探测器的判断结果用一比特数据来表示，如果判断结果为相关探测器，则用该一比特数据的第一值来表示，否则用该一比特数据的第二值来表示。

3.如权利要求2所述的正电子发射断层扫描仪中的符合判选方法，其特征在于，在所述对每个探测器与其对面的各个探测器是否为相关探测器进行判断以获得相关数据的步骤中，用于表示一个探测器与其对面的各个探测器是否为相关探测器的各个判断结果的数据构成该探测器的相关数据。

4.如权利要求3所述的正电子发射断层扫描仪中的符合判选方法，其特征在于，所述判断两个相关探测器之间是否唯一相关的步骤包括：

判断所述两个相关探测器中的第一个相关探测器的相关数据是否只有与所述两个相关探测器中的第二个相关探测器对应的一比特数据的值为第一值；

如果第一个相关探测器的相关数据中只有与第二个相关探测器对应的一比特数据的值为第一值，则判断第二个相关探测器的相关数据中是否只有与第一个相关探测器对应的一比特数据的值为第一值，如果第二个相关探测器的相关数据中也只有与第一个相关探测器对应的一比特数据的值为第一值，则判定所述第一个相关探测器和第二个探测器为唯一相关。

5.如权利要求3所述的正电子发射断层扫描仪中的符合判选方法，其特征在于，在所述对每个探测器与其对面的各个探测器是否为相关探测器进行判断以获得相关数据步骤中，

各个探测器的相关数据被分别存储在对应的寄存器中。

6.如权利要求1-5任一项所述的正电子发射断层扫描仪中的符合判选方法，其特征在于，任一探测器对面的探测器是指：所述探测环中以该任一探测器为圆心、与所述正电子发射断层扫描仪的视野范围相切的两条线为半径构成的扇形区中的各探测器。

7.一种正电子发射断层扫描仪，包括：

探测环，所述探测环由多个探测器围成；

数据处理板卡，用于对每个探测器与其对面的各个探测器是否为相关探测器进行判断，根据各判断结果获得相关数据，其中如果两个探测器所探测的单事例的时间差在符合时间窗以内，则该两个探测器为相关探测器，其中，任一探测器对面的探测器是指以所述探测环中的该探测器为圆心的预定角度的扇形区中的各探测器，所述数据处理板卡还用于判断两个相关探测器之间是否唯一相关，并将唯一相关的两个探测器所探测的单事例判定为符合事例。

8.如权利要求7所述的正电子发射断层扫描仪，其特征在于，所述数据处理板卡将一个探测器与另一个探测器是否为相关探测器的判断结果用一比特数据来表示，如果判断结果为相关探测器，则用该一比特数据的第一值来表示，否则用该一比特数据的第二值来表示。

9.如权利要求7所述的正电子发射断层扫描仪，其特征在于，在所述数据处理卡中，用于表示一个探测器与其对面的各个探测器是否为相关探测器的各个判断结果的数据构成该探测器的相关数据。

10.如权利要求9所述的正电子发射断层扫描仪，其中所述数据处理卡判断所述两个相关探测器中的第一个相关探测器的相关数据是否只有与所述两个相关探测器中的第二个相关探测器对应的一比特数据的值为第一值；如果第一个相关探测器的相关数据中只有与第二个相关探测器对应的一比特数据的值为第一值，则判断第二个相关探测器的相关数据中是否只有与第一个相关探测器对应的一比特数据的值为第一值，如果第二个相关探测器的相关数据中也只有与第一个相关探测器对应的一比特数据的值为第一值，则判定所述第一个相关探测器和第二个探测器为唯一相关。