[发明专利]正电子发射断层扫描仪及其中的符合判选方法

权利要求书

1.一种正电子发射断层扫描仪中的符合判选方法，所述正电子发射断层扫描仪包括多个探测器，用于探测正电子核湮没所产生的γ光子，其特征在于，所述符合判选方法包括：

获取各所述探测器的事例信息，各所述事例信息包括对应的探测器探测γ光子的时间信息、对应的探测器的位置信息和对应的探测器的能量信息；

将各所述事例信息按照其时间信息顺序存储在对应的存储空间中，并将各所述事例信息的时间信息作为对应的存储空间的地址信息，其中相邻时间信息之间具有固定的值差；

根据各所述存储空间中的事例信息获取多个标志信息，并将获取的标志信息存储至对应各所述时间信息的多个标志寄存器中，各所述标志信息表示在对应的时间信息所探测到γ光子的次数；

根据各所述标志信息获取判选信息，并将获取的判选信息存储在对应各时间信息的多个判选寄存器中，各所述判选信息代表从对应的时间信息开始，在预设符合时间窗内探测到γ光子的次数；

对各所述判选信息按照对应的时间信息进行排序；

利用N个序列检查特征对排序后的判选信息依次进行检查，以确定发生的符合事例所对应的存储空间，所述符合事例是指在所述预设符合时间内有且只有两次探测到γ光子，其中“N”为所述符合时间窗中所包含的时间信息的个数，所述N个序列检查特征分别为：所述符合事例中的两个单事例的时间间隔为0、1......N-1的情况下在排序后的所述判选信息中的分布特征；及

输出发生的符合事例所对应的存储空间中的事例信息。

2.如权利要求1所述的正电子发射断层扫描仪中的符合判选方法，其特征在于，各所述事例信息用预设位宽的二进制数值表示，各所述标志信息为2比特数据，其中，当各所述标志信息为“00”、“01”、“10”或“11”时，代表在对应的时间信息“没有探测到γ光子”、“一次探测到γ光子”“两次探测到γ光子”或“超过两次探测到γ光子”。

3.如权利要求2所述的正电子发射断层扫描仪中的符合判选方法，其特征在于，各所述判选信息为2比特数据，其中，各所述判选信息为从对应的标志寄存器开始连续N个标志寄存器的值相加后的最低两位数据。

4.如权利要求1-3任一项所述的正电子发射断层扫描仪中的符合判选方法，其特征在于，

所述符合事例中的两个单事例的时间间隔为n个单位时间间隔时在排序后的判选信息中的序列检查特征为：连续N+n个值不为“00”和“11”的数据中，具有2n个值为“01”的数据以及连续N-n个值为“10”的数据，其中，2n个值为“01”的数据对称分布在连续N-n个值为“10”的数据的两侧，n为大于或等于0且小于或等于N-1的任一整数。

5.如权利要求1-3任一项所述的正电子发射断层扫描仪中的符合判选方法，其特征在于，利用所述N个序列检查特征对排序后的判选信息依次进行检查是通过并行处理的方式进行的。

6.如权利要求1-3任一项所述的正电子发射断层扫描仪中的符合判选方法，其特征在于，各所述事例信息存储在双口随即存取存储器的存储空间中，各所述事例信息的时间信息为所述双口随即存取存储器的地址，所述双口随即存取存储器的每个地址上存储两个时间信息相同的事例信息。