[发明专利]一种波形曲线生成方法及装置无效
申请号: | 201210133661.2 | 申请日: | 2012-04-28 |
公开(公告)号: | CN102681594A | 公开(公告)日: | 2012-09-19 |
发明(设计)人: | 张建华 | 申请(专利权)人: | 张建华 |
主分类号: | G06F1/02 | 分类号: | G06F1/02 |
代理公司: | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人: | 李世喆 |
地址: | 100000 北京市海*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 波形 曲线 生成 方法 装置 | ||
技术领域
本发明涉及信息预测技术领域,尤其涉及一种波形曲线生成方法及装置。
背景技术
随着社会的进步和人们经济水平的提高,市面上出现了大量的经济产品,并且越来越多的用户对这些经济产品产生了兴趣。而且为了满足用户的需求出现了大量的波形生成的方法及装置,从而可以根据用户输入的参数生成对应的波形图,以便用户使用。
现有技术中,用户普遍采用的波形生成方法为基于波浪理论的波形生成方法,但是该波形生成方法生成的波形较粗糙,没有准确的体现波形上涨和下跌节点的明显技术特征,从而使生成的波形图的准确性不高,影响后期的使用。
发明内容
有鉴于此,本发明实施例提供一种波形曲线生成方法及装置,用以解决现有技术基于波浪理论的波形生成方法生成的波形图的准确性不高,影响后期准确性的问题。
本发明提供一种波形曲线生成方法,所述方法包括:
根据用户输入的波形生成属性信息及保存的设定时间长度的波形曲线,获取生成目标波形的基准曲线;
在所述基准曲线上依据设置的规则,确定第一基准点和第二基准点;
根据影响波形的各个因素及设置的极点生成多个波形参数,根据生成的每个波形参数及第一基准点、第二基准点生成波形曲线。
较佳地,所述获取生成目标波形的基准曲线包括:
根据用户输入的波形类型信息,在保存的设定时间长度的波形曲线中,查找该波形类型的曲线;
在查找的该波形类型的曲线中,根据用户输入的时间参数,选择满足该时间参数的基准曲线。
较佳地,在所述基准曲线上依据设置的规则,确定第一基准点和第二基准点包括:
当获取的所述基准曲线为单K线时,确定所述单K线在该设定的长度内的最低点和最高点,分别将所述最低点和最高点确定为第一基准点和第二基准点;
当获取的所述基准曲线为极点K线,且极点K线的影线大于实体的二倍时,选取影线的最低点和最高点,分别将所述最低点和最高点确定为第一基准点和第二基准点;
当获取的所述基准曲线为双体K线和多体K线时,选取者几条曲线中的最低点和最高点,分别将所述最低点和最高点确定为第一基准点和第二基准点;
当获取的所述基准曲线为较长横盘曲线时,选择该曲线的最低点和最高点,分别将所述最低点和最高点确定为第一基准点和第二基准点。
较佳地,所述根据影响波形的各个因素及设置的极点生成多个波形参数,包括:
针对影响波形的每个因素,及设置的极点,在该极点的范围内确定稳定点;
将该稳定点作为阈值,将影响波形的每个因素中大于该阈值的值作为波形参数,其中生成的波形参数包括1.83、2.12、2.4、2.75、3.1、3.5、3.97、4.33、4.7、5.25、6和6.8。
较佳地,所述根据生成的每个波形参数及第一基准点、第二基准点生成波形曲线包括:
确定第二基准点和第一基准点的差值,取该差值与每个波形参数的积,并将该积与第一基准参数的和作为每个上涨值,将对应每个上涨值的线作为上涨线;并
确定第一基准点和第二基准点的差值,并确定该差值与每个波形参数的积,取该第一基准点与该积的差值,将该差值作为每个下降值,将对应每个下降值的线作为下降线;
根据生成的所述上涨线和下降线生成波形曲线。
本发明提供一种波形生成装置,所述装置包括:
接收端口,用于接收用户输入的波形生成属性信息;
存储模块,用于保存设定时间长度的每条波形曲线;
中央处理器CPU,用于根据根据用户输入的波形参数及保存的设定时间长度的波形曲线,获取生成目标波形的基准曲线;
输出模块,用于根据影响波形的各个因素及设置的极点生成多个波形参数,根据生成的每个波形参数及第一基准点、第二基准点生成波形曲线。
较佳地,所述中央处理器,具体用于根据接收端口接收到的用户输入的波形类型信息,在存储模块保存的设定时间长度的波形曲线中,查找该波形类型的曲线;在查找的该波形类型的曲线中,根据用户输入的时间参数,选择满足该时间参数的基准曲线。
较佳地,所述中央处理器,具体用于当获取的所述基准曲线为单K线时,确定所述单K线在该设定的长度内的最低点和最高点,分别将所述最低点和最高点确定为第一基准点和第二基准点;
当获取的所述基准曲线为极点K线,且极点K线的影线大于实体的二倍时,选取影线的最低点和最高点,分别将所述最低点和最高点确定为第一基准点和第二基准点;
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