[发明专利]有源天线系统下行、上行无线指标的测试方法及装置

权利要求书

1.一种有源天线系统下行无线指标的测试方法，其特征在于，所述方法在吸波暗室或者无信号干扰空间中进行，包括：

获取所述吸波暗室或者无信号干扰空间的校准参数；

将有源天线系统配置为向接收天线发射无线波束，其中，所述无线波束由来自于所述吸波暗室或者无信号干扰空间外的基带处理单元的基带信号触发产生并经由所述接收天线传至所述吸波暗室或者无信号干扰空间外的测试仪表；

启动所述基带处理单元和所述有源天线系统，并根据所述校准参数对调整后的有源天线系统进行无线指标测试。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在启动所述基带处理单元和所述有源天线系统之前，还包括：

调整所述有源天线系统与所述接收天线使所述接收天线的接收功率为最大或最小。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，获取所述吸波暗室或者无信号干扰空间的校准参数，包括：

在所述吸波暗室或者无信号干扰空间内设置第一基准发射天线和第一接收天线，其中，所述第一基准发射天线与所述吸波暗室或者无信号干扰空间外的第一信号源相连接，所述第一接收天线与所述吸波暗室或者无信号干扰空间外的测试仪表相连接；

调整所述第一基准发射天线和所述第一接收天线使所述第一基准发射天线和所述第一接收天线正向对准；

启动所述信号源，所述信号源经由所述第一基准发射天线和所述第一接收天线向所述测试仪表发送校准测试信号；

所述测试仪表根据所述校准测试信号获取所述校准参数。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述无线指标包括以下至少之一：

射频指标、空间辐射场指标。

5.根据权利要求1至4任一项所述的方法，其特征在于，根据所述校准参数对调整后的有源天线系统进行无线指标测试，包括：

根据所述校准参数获取有效全向辐射功率测试值；

根据获取的所述有效全向辐射功率测试值获取进行各项无线指标测试的测试结果。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，通过以下公式获取有效全向辐射功率测试值：

EIRP＝Pg+ΔPc，其中，EIRP为所述有效全向辐射功率测试值，Pg为测试仪表测得的功率值，ΔPc为所述校准参数。

7.一种有源天线系统上行无线指标的测试方法，其特征在于，所述方法在吸波暗室或者无信号干扰空间中进行，包括：

获取所述吸波暗室或者无信号干扰空间的校准参数；

将有源天线系统配置为接收来自于发射天线的无线波束，其中，所述无线波束来自于所述吸波暗室或者无信号干扰空间外的信号源并经由所述有源天线系统传至所述吸波暗室或者无信号干扰空间外的基带处理单元；

启动所述基带处理单元和所述有源天线系统，根据所述校准参数对调整后的有源天线系统进行无线指标测试。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，在启动所述基带处理单元和所述有源天线系统之前，还包括：

调整所述有源天线系统与所述发射天线使所述有源天线系统的接收功率为最大或最小。

9.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，获取所述吸波暗室或者无信号干扰空间的校准参数，包括：

在所述吸波暗室或者无信号干扰空间内设置第二基准发射天线和第二接收天线，其中，所述第二基准发射天线与所述吸波暗室或者无信号干扰空间外的第二信号源相连接，所述第二接收天线与所述吸波暗室或者无信号干扰空间外的测试仪表相连接；

调整所述第二基准发射天线和所述第二接收天线使所述第二基准发射天线和所述第二接收天线正向对准；

启动所述信号源，所述信号源经由所述第二基准发射天线和所述第二接收天线向所述测试仪表发送校准测试信号；

所述测试仪表根据所述校准测试信号获取所述校准参数。

10.根据权利要求7至9任一项所述的方法，其特征在于，根据所述校准参数对调整后的有源天线系统进行无线指标测试，包括：

根据所述校准参数获取等效全向接收灵敏度的测试值；

根据获取的所述测试值获取进行各项无线指标测试的测试结果。