[发明专利]有机金属化学汽相沉积的方法与装置无效

专利信息
申请号: 201210142615.9 申请日: 2012-05-09
公开(公告)号: CN103046019A 公开(公告)日: 2013-04-17
发明(设计)人: 黄智勇;陈思豪;王庆钧;陈建志 申请(专利权)人: 财团法人工业技术研究院
主分类号: C23C16/18 分类号: C23C16/18;C23C16/44
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 陈小雯
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 有机 金属 化学 沉积 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种有机金属化学汽相沉积的方法,包括:

提供基板,于该基板的第一表面具有金属基材料层;

将该基板放置于腔体内的基座上,且该金属基材料层介于该基板与该基座之间;以及

对该基板的第二表面进行有机金属化学汽相沉积制程,其中该第二表面位于该第一表面的相对侧,且

该金属基材料层的热传导系数与该基板的热传导系数的差值在1W/m·°C~20W/m·°C之间,

该金属基材料层的热膨胀系数与该基板的热膨胀系数在同一数量级。

2.如权利要求1所述的有机金属化学汽相沉积的方法,其中该金属基材料层能耐1000°C以上的温度。

3.如权利要求1所述的有机金属化学汽相沉积的方法,其中该金属基材料层的电阻率的范围在同一数量级内。

4.如权利要求1所述的有机金属化学汽相沉积的方法,其中该金属基材料层的厚度为1μm~10μm。

5.如权利要求1所述的有机金属化学汽相沉积的方法,其中进行该有机金属化学汽相沉积制程,以便于该基板的该第二表面形成半导体元件。

6.如权利要求5所述的有机金属化学汽相沉积的方法,其中该金属基材料层是该半导体元件的电极。

7.如权利要求1所述的有机金属化学汽相沉积的方法,其中该金属基材料层包括金属或金属化合物。

8.如权利要求7所述的有机金属化学汽相沉积的方法,其中该金属基材料层包括钼、钽、铌或铂。

9.如权利要求1所述的有机金属化学汽相沉积的方法,其中该金属基材料层全面性地形成在该基板的该第一表面上。

10.如权利要求1所述的有机金属化学汽相沉积的方法,其中进行该有机金属化学汽相沉积制程期间,还包括旋转该基座。

11.如权利要求10所述的有机金属化学汽相沉积的方法,其中旋转该基座的转速低于20rpm。

12.如权利要求1所述的有机金属化学汽相沉积的方法,其中进行该有机金属化学汽相沉积制程期间,还包括往该腔体内均匀进气。

13.一种有机金属化学汽相沉积装置,至少包括:

腔体;以及

基座,位于该腔体内,用以承放基板并对该基板加热,其中

该基板与该基座之间有金属基材料层,

该金属基材料层的热传导系数与该基板的热传导系数的差值在1W/m·°C~20W/m·°C之间,

该金属基材料层的热膨胀系数与该基板的热膨胀系数在同一数量级。

14.如权利要求13所述的有机金属化学汽相沉积装置,其中该金属基材料层能耐1000°C以上的温度。

15.如权利要求13所述的有机金属化学汽相沉积装置,其中该金属基材料层的电阻率的范围在同一数量级内。

16.如权利要求13所述的有机金属化学汽相沉积装置,其中该金属基材料层的厚度为1μm~10μm。

17.如权利要求13所述的有机金属化学汽相沉积装置,其中该金属基材料层包括金属或金属化合物。

18.如权利要求17所述的有机金属化学汽相沉积装置,其中该金属基材料层包括钼、钽、铌或铂。

19.如权利要求13所述的有机金属化学汽相沉积装置,其中该金属基材料层全面性地形成在该基板的表面。

20.如权利要求13所述的有机金属化学汽相沉积装置,其中该金属基材料层位于该基座的表面。

21.如权利要求13所述的有机金属化学汽相沉积装置,其中该基板与该基座是互不接触的。

22.如权利要求13所述的有机金属化学汽相沉积装置,还包括连接该腔体的气体供应系统。

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