[发明专利]电压调节器

说明书

技术领域

本发明涉及具备过电流保护电路的电压调节器。

背景技术

对现有的电压调节器进行说明。图9是示出现有的电压调节器的图。

现有的电压调节器具备接地端子100、电源端子101、输出端子102、基准电压电路103、差分放大电路104、输出晶体管105、分压电路106以及过电流保护电路107。

对现有的电压调节器的动作进行说明。

当输出端子102的输出电压Vout比既定电压高时，即，分压电路106的分压电压Vfb比基准电压Vref高时，差分放大电路104的输出信号变高。由于输出晶体管105的栅极电压变高，所以输出晶体管105截止，输出电压Vout变低。另外，当输出电压Vout比既定电压低时，如上所述，输出电压Vout变高。即，电压调节器的输出电压Vout在既定电压保持固定。

在此，使电压调节器的输出电压Vout因负荷的增大而下降时，输出电流Iout变多，成为最大输出电流Im。于是，与该最大输出电流Im对应，流动到与输出晶体管105电流反射镜连接的感测晶体管（sense transistor）121的电流变多。此时，在电阻154产生的电压变高，NMOS晶体管123导通，在电阻153产生的电压变高。而且，PMOS晶体管124导通，输出晶体管105的栅极/源极间电压变低，输出晶体管105截止。因此，输出电流Iout没有变得比最大输出电流Im多，而固定于最大输出电流Im，输出电压Vout变低。在此，输出晶体管105的栅极/源极间电压因在电阻154产生的电压而变低，输出晶体管105截止，输出电流Iout固定于最大输出电流Im，所以最大输出电流Im由电阻154的电阻值及晶体管123的阈值决定（参照专利文献1）。

为了使最大输出电流Im精度良好，需要精度良好地调整电阻154的电阻值及晶体管123的阈值。为了进行调整，在评价电阻154、晶体管123的特性后进行微调（トリミング）。针对与电阻154及晶体管123具有相同特性的代替元件进行评价。

图10是示出具备现有的测试电路的电压调节器的图。具备现有的测试电路的电压调节器还具备电压检测器111、第1开关191、第2开关192以及评价对象的代替元件112。

当分压电路106的输出被输入到电压检测器111时，第1开关191受电压检测器111的输出控制而成为短路状态时，电流从输出端子102流动到评价对象的代替元件112。受电压检测器111的输出控制的第2开关192成为短路状态时，PMOS晶体管129截止，电流不从输出端子102流动到内部电路元件113。因此，使用图10的结构时，能够对评价对象的代替元件112的电特性精度良好地进行评价（参照专利文献2）。

专利文献1：日本特开2005－293067号公报

专利文献2：日本特开2008－140113号公报。

发明内容

然而，在现有技术中，为了进行正确地设定电压调节器的最大输出电流Im的过电流保护微调，需要用于评价决定Im的元件的特有的测试电路。当电压调节器作为制品而起作用时不需要测试电路，由于存在测试电路，电压调节器IC的芯片面积变大，当芯片面积较大时，每1块晶圆的芯片数变少，所以在成本方面是不利的。另外，对评价对象的代替元件的电特性进行评价的测试工序的存在提高了IC的制造费用，所以在成本方面是不利的。

在本发明中，鉴于上述课题，提供省略了用于精度良好地设定最大输出电流的测试电路及测试工序的电压调节器。

为了解决现有的课题，在本发明的电压调节器中，构成为：对决定基准电压电路中的基准电压Vref的元件和在过电流保护电路中决定最大输出电流Im的元件使用具有相同的特性的元件。

在本发明的电压调节器中，不用在测试电路中评价过电流保护电路的评价对象的代替元件，就能够推定最大输出电流Im。微调前的输出电压Vout由决定基准电压电路中的基准电压Vref的元件的特性值决定。另一方面，因为决定最大输出电流Im的过电流保护电路中的元件与决定基准电压Vref的元件特性相同，所以在输出电压Vout和最大输出电流Im的制造上的偏差产生相关，无需决定最大输出电流Im的元件的测试电路及测试工序就能够掌握Im。因此，本发明的电压调节器不使用测试电路，所以能够缩小芯片面积，由于能够省略测试工序，所以存在降低制造成本这一效果。

附图说明

图1是示出本实施方式的电压调节器的电路图。

图2是示出本实施方式的电压调节器的一个例子的电路图。

图3是示出本实施方式的电压调节器的其他例子的电路图。