[发明专利]阵列基板检测信号分配装置和检测设备

说明书

本发明是申请日为2010年1月4日、申请号为201010033681.3、发明名称为“阵列基板检测信号分配装置和检测设备”的发明专利的分案申请。

技术领域

本发明涉及一种液晶面板检测技术，尤其涉及一种阵列基板检测信号分配装置和检测设备。

背景技术

目前，信息通讯产业已成为现今的主流产业，特别是各式通讯显示产品更是发展的重点，而平面显示器为人们提供了沟通信息的界面，因此显得尤其重要。就平面显示器而言，具有高画质、空间利用效率佳、低消耗功率、无辐射等优越特性的液晶显示器已逐渐成为市场的主流。

在制作上述液晶显示器时，必须对阵列基板上的数据线、栅线和像素分别进行短路缺陷检测和断线及像素缺陷检测，以确定阵列基板的短路、断线及像素缺陷。现有技术中一般通过光电检测（又称Gapping检测）方法来检测断线和像素缺陷，且通过电学基板筛选（Electronic Substrate Screening，简称ESS）检测方法来检测短路缺陷。

图1是一种现有技术的光电检测方法的原理结构示意图，所需的检测装置包括：检测台1、光调制器（modulator）2、光束分离器(beam splitter)9、光源3、图像传感器5和图像处理器6。其中，检测台1上放置阵列基板7；光调制器2设置在阵列基板7的上方并包括可控制光通过与否的控光层201和反射层202，当阵列基板7和光调制器2之间施加电压时，光调制器2与阵列基板7的栅线、数据线和像素电极等电极8之间形成电场；光束分离器9将从光源3射出的光线传输至反射层202，反射层202将该光线反射至图像传感器5。当阵列基板7上出现断线或像素缺陷时，必然会引起该区域的电场区别于其他部位，则经过光调制器2传输的光线会相应的区别其他位置，图像传感器5可检测到光信号的差异，提供给图像处理器6即可识别到断线或像素缺陷的位置。光电检测方法中要求光调制器2的面积应小于阵列基板7的面积。

阵列基板的ESS检测方法是，将检测信号分别施加到阵列基板的各个检测接垫后，通过分别测定相邻检测接垫电流值，来判断各个检测接垫之间的短路缺陷。

现在大型阵列基板的面积通常可以满足等于或大于光调制器面积的要求，但是中型或小型阵列基板一般小于光调制器。所以可以采用多个面板（Multiple Small Panel，简称MSP）功能来实现，即将多块排列在一起的中型或小型阵列基板的数据线和栅线通过短路杆相连，形成短路群，以达到不小于光调制器面积的要求。但是该技术方案会给ESS检测方法带来问题。

图2是一种现有技术的适用于大型阵列基板的检测信号分配装置的线路结构示意图，从图中可以看出，该检测信号分配装置包括一个多路输出选择器（Demultiplexer，简称DMUX）10和多个多路复用板（Multiplexer Board，简称MUX）11，其中，每个MUX 11均包括输入端12、输出端13和使能端14，DMUX 10的每个输出端与每个MUX 11的使能端14连接，使能端14用于接收DMUX 10的使能信号EN。当DMUX 10被使能时会将使能信号EN依次分配给多个MUX 11，从而依次开启多个MUX 11。各个MUX 11的输入端12用于接收驱动模块输入的检测信号DS，输出端13的数量为多个，MUX 11可以通过各输出端13将检测信号DS输出至阵列基板7的各检测接垫（pad）15，并通过各检测接垫15再输出至阵列基板7上的数据线和栅线。

图3是一种现有技术的适用于中型或小型阵列基板的检测信号分配装置的线路结构示意图。与图2所示检测信号分配装置类似，区别在于各个阵列基板7的数据线和栅线连接至检测接垫15之后，由于需要实现MSP功能，所以对应光调制器2区域内的各个阵列基板7的检测接垫15需要通过短路配线16相连，以便形成短路群。对于中型或小型阵列基板而言，由于各个阵列基板7之间形成了短路群，因此当进行光电检测和ESS检测时，检测信号DS可同时进入多个阵列基板7。

但是，发明人在进行本发明的研究过程中发现现有技术中存在如下缺陷：当基于该信号分配装置进行ESS检测时，对于大型阵列基板而言，不同的MUX可以依次输入检测信号，以便短路检测装置对相邻检测接垫之间的电流进行检测而判断是否短路。然而对于中型或小型阵列基板而言，由于各个阵列基板之间通过短路杆和短路配线形成了短路群，所以多个MUX无法分别向各个阵列基板输入检测信号，因此降低了ESS检测的准确性。若分别采用不同的检测信号分配装置和电路，则会降低检测设备的通用性，分别检测也会降低检测效率。

发明内容