[发明专利]狭缝式涂布机膜厚的控制方法及膜厚控制系统

说明书

技术领域

本发明涉及一种狭缝式涂布机膜厚的控制方法及膜厚控制系统。

背景技术

现有的狭缝式涂布机一般包括涂布机头、基片收放料装置及电极料烘干装置，基片收放料装置使基片恒速运动，涂布机头将电极料浆均匀地涂布在基片的一面，带有电极料浆的基片经过烘干装置将所述电极料浆烘干，并将电极料（也称电极膜）固定在基片上。用这种涂布机生产电池的正极或负极，其电极膜的厚度对后道工序制成的电池的质量影响很大，因此，对于电极膜的厚度的控制就显得十分重要。

最传统的狭缝式涂布机是靠开机时，进行试样而得出涂布机头的适当涂布间隙后，保持这一涂布间隙，而进行后续生产；如在开机时，根据不同电极浆料的浓度及成份，结合以往的经验设置一个涂布间隙，涂布、干燥后，测量膜厚，根据测量的结果，调节涂布间隙；如此反复，直到涂布间隙调整合适，才正规大量生产，这种方法的缺陷是开机时不可避免会生一部分废品；其次就是在正规的大量生产过程中，由于电子浆料的浓度、料压及涂布间隙的机械变化，都会影响到最后的膜厚变化，当我们在生产过程中，通过测量而发现膜厚发生变化时为时已晚。

为了解决上述问题，中国专利文献CN201361603Y公开了一种自动控制涂布间隙的极片涂布机，这种极片涂布机通过实时检测涂布机的涂布间隙与预设的标准涂布间隙时行比较，从而保证准确的涂布间隙，以达到统一的干燥厚度。这种涂布机采用位于刮刀辊一侧的CMOS光成像传感器，和位于刮刀辊另一侧的检测光源，当涂布机的涂布间隙发生变化时，CMOS光成像传感器采集到的光照度就会发生变化，此变化信号被反馈到数字信号处理器进行处理，根据处理结果输出控制指令调节涂布间隙。这种涂布机单纯地依靠透过涂布间隙的光照度来推测电极膜的干燥厚度，其实只是一种预测，并不能真实的反映实际的电极膜的干燥厚度，另外，这种透过涂布间隙的光照度很容易受到电子料浆的粒度、浓度的影响，而使光照度发生错误的变化，从而得出完全不符合实际情况的调控。从所周知，电极膜的干燥厚度受到料浆浓度、料浆对涂布辊的压力（也称料压），以及机械性能等诸多因素的影响，单纯地靠测量涂布间隙来控制电极膜的干燥厚度，是不足以达到技术要求的。

发明内容

为了克服上述问题，本发明向社会提供一种以在前的相邻的实测点所测数据的比值为下一实测点的标准比值，可提高膜厚均匀度，且膜厚在允许误差范围内的狭缝式涂布机膜厚的控制方法。

本发明的另一个目的是向社会提供一种实现上述方法的膜厚控制系统。

本发明的技术方案是提供一种狭缝式涂布机膜厚的控制方法, 包括如下步骤，

1．设置开始时标准干料厚度与标准湿料厚度之比的干湿料标准比值，并开始按此干湿料标准比值进行涂布浆料；

2．定时用设置于涂布机出料口处的湿料厚度测量仪测量湿料厚度值，以及用设置于涂布机烘箱出料口处的干料厚度测量仪测量干料厚度值；

3．如果所测量的干料厚度值落在预定的允许的干料厚度范围内，则以该测量的干料厚度值与测量的湿料厚度值之比，作为新的干湿料标准比值；如果所测量的干料厚度值超出预定的允许的干料厚度范围，则以标准干料厚度值与测量的湿料厚度值之比，作为新的干湿标准比值，并同时调整涂布间隙，以保持该测量的湿料厚度值；

4．记录并保存新的干湿料标准比值；

5．以新的干湿料标准比值继续进行涂布浆料；

6．重复第2至第5步，进行连续涂布浆料。

本发明还包括湿料厚度测量仪和/或干料厚度测量仪校正步骤7，间隔预定时间，用厚度标准片对湿料厚度测量仪和/或干料厚度测量仪校正一次，以保证湿料厚度测量仪和/或干料厚度测量仪测试准确度。

本发明还提供一种狭缝式涂布机膜厚控制系统，包括：

-湿料厚度测量仪，用于测量涂布机出料口处的湿料厚度；

-干料厚度测量仪，用于涂布机烘箱出料口处的干料厚度；

-比较器，用于将干料厚度测量仪所测量的结果与预定的允许的干料厚度范围进行比较，并将比较结果输送给数字信息处理器；

-计算器，用于根据干料厚度测量仪和湿料厚度测量仪在线测试值计算出干湿料比值；

-第一存储器，用于存储干湿料标准比值；

-第二存储器，用于临时存储新的干湿料比值；