[发明专利]流体折射率探测器无效
| 申请号： | 201210148893.5 | 申请日： | 2012-05-14 |
| 公开（公告）号： | CN102645418A | 公开（公告）日： | 2012-08-22 |
| 发明（设计）人： | 胡艾青;梁斌明;蒋强;王荣;张礼朝 | 申请（专利权）人： | 上海理工大学 |
| 主分类号： | G01N21/41 | 分类号： | G01N21/41 |
| 代理公司： | 上海德昭知识产权代理有限公司 31204 | 代理人： | 郁旦蓉 |
| 地址： | 200093 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 流体 折射率 探测器 | ||
1.一种基于二维光子晶体负折射效应的流体折射率探测器，其特征在于，包括：
激光器，发射探测光；
光子晶体，使所述探测光经过其所承载的待测流体而只发生一次负折射效应在其外表面上产生负折射光；
光功率探头，接收所有所述负折射光并测定所述负折射光的负折射功率的；
计算部，根据所述负折射功率计算出所述待测流体的折射率。
2.根据权利要求1所述的流体折射率探测器，其特征在于：
其中，所述光子晶体是将圆形硅柱按照六边形晶格周期性排列在其中，所述待测液体完全浸没所述介质。
3.根据权利要求2所述的流体折射率探测器，其特征在于：
其中，所述圆形硅柱的直径的范围为0.2μm～0.35μm。
4.根据权利要求2所述的流体折射率探测器，其特征在于：
其中，所述晶格的晶格常数为0.22μm～0.54μm。
5.根据权利要求1所述的流体折射率探测器，其特征在于：
其中，所述待测流体的折射率的范围为1.33～1.50。
6.根据权利要求1所述的流体折射率探测器，其特征在于：
其中，所述探测光的波长范围为0.8μm～1.8μm。
7.根据权利要求1所述的流体折射率探测器，其特征在于：
其中，所述光功率探头为半导体光功率探头。
8.根据权利要求2、4、6所述的流体折射率探测器，其特征在 于：
其中，所述探测光的波长为1.55μm，所述圆形硅柱的直径为0.2852μm，计算部中的计算公式为y=27.505x3-9.4932x2+1.54x+1.3219，其中，x表示光功率探测头探测到的折射光的功率，y为光子晶体中的待测流体的折射率。
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