[发明专利]采用金属有机化合物气相外延技术生长非对称电子储蓄层高亮度发光二极管的方法有效

专利信息
申请号: 201210151216.9 申请日: 2012-05-16
公开(公告)号: CN102664145A 公开(公告)日: 2012-09-12
发明(设计)人: 贾传宇;殷淑仪;高宗伟;孙永建;张国义 申请(专利权)人: 东莞市中镓半导体科技有限公司
主分类号: H01L21/205 分类号: H01L21/205;H01L33/00
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 谭一兵;蔡晓军
地址: 523518 *** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 采用 金属 有机化合物 外延 技术 生长 对称 电子 储蓄 层高 亮度 发光二极管 方法
【权利要求书】:

1.一种采用金属有机化合物气相外延技术生长非对称电子储蓄层高亮度发光二极管的方法,采用金属有机化合物气相外延方法,通过在n-GaN和InGaN有源层之间引入非对称的渐变In组分的电子注入层,改善电流扩展,提高LED发光效率,使用三甲基镓、三甲基铟、三甲基铝作为III族源,氨气作为V族源,硅烷作为n型掺杂源,二茂镁作为p型掺杂源,其特征在于,该方法包括以下步骤:

步骤一、在金属有机化合物气相外延反应室中将蓝宝石AllO3衬底在氢气气氛下,1040~1200℃处理5分钟,然后降低温度,在530~550℃,反应室压力 500 torr,在氢气气氛下,三维生长20~30 纳米的GaN缓冲层,再在1000~1500℃下生长2~4微米厚n-GaN层; 

步骤二、在氮气气氛下,在750~850℃下生长n型非对称In组分渐变的电子注入层,接着生长5~10周期InxGa1-xN/GaN多量子阱有源区,其中0.01≤x≤0.3,电子注入层中最大In组分小于有源区中In组分;

步骤三、在氢气氛下,在950~1040℃生长p型AlGaN电子阻挡层和p-GaN层。

2.根据权利要求1所述的采用金属有机化合物气相外延技术生长非对称电子储蓄层高亮度发光二极管的方法,其特征在于:所述n型非对称In组分渐变的电子注入层是n-InGaN,所述n型n-InGaN电子注入层是在n-GaN和InxGa1-xN/GaN有源区之间,In组分从随n-InGaN生长厚度增加线性增加的;

所述n型插入层中最高In组分小于InxGa1-xN/GaN多量子阱有源区的In组分x,所述n型插入层厚度是10~100nm。

3.根据权利要求1所述的采用金属有机化合物气相外延技术生长非对称电子储蓄层高亮度发光二极管的方法,其特征在于:所述n型非对称In组分渐变的电子注入层是n-InGaN/GaN 超晶格,所述n-InGaN/GaN超晶格插入层是在n-GaN和有源区之间,其中超晶格阱层In组分随超晶格周期的增加是线性增加的;所述n型插入层中最高In组分小于InxGa1-xN/GaN多量子阱有源区的In组分x,所述n型超晶格周期数1~20。

4.根据权利要求1所述的采用金属有机化合物气相外延技术生长非对称电子储蓄层高亮度发光二极管的方法,其特征在于:所述n型非对称In组分渐变的电子注入层是n-InGaN/InGaN 超晶格;所述InGaN/InGaN超晶格插入层是是在n-GaN和有源区之间,超晶格垒层In组分小于阱层In组分,超晶格阱层In组分随超晶格周期的增加而线性增加,所述n型插入层中最高In组分小于InxGa1-xN/GaN多量子阱有源区的In组分x, 所述n型超晶格周期数1~20。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于东莞市中镓半导体科技有限公司,未经东莞市中镓半导体科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210151216.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top