[发明专利]系统级电磁兼容故障诊断中的干扰源辨识方法无效
申请号: | 201210154156.6 | 申请日: | 2012-05-17 |
公开(公告)号: | CN102680825A | 公开(公告)日: | 2012-09-19 |
发明(设计)人: | 田锦;邱扬;许社教;刘君华;黄孟龙 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R19/00 |
代理公司: | 西安吉盛专利代理有限责任公司 61108 | 代理人: | 张培勋 |
地址: | 710071 陕西省*** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 系统 电磁 兼容 故障诊断 中的 干扰 辨识 方法 | ||
技术领域
本发明属于电磁兼容故障诊断方法,特别是电磁兼容故障诊断系统中的干扰源辨识方法,适用于系统级电磁兼容故障诊断。
背景技术
随着现代电子信息科学技术的高速发展和广泛应用,电子信息系统正在向集成化、多任务化、微型化发展。各种各样的电子设备或系统以及其他的电子、电气设备越来越密集导致的系统内电磁环境及其复杂,高密度、宽频谱的电磁信号充满整个空间,尤其是集成在一定载体平台上的机动式电子信息系统,如车载、机载等系统,电磁兼容问题愈发突出。
大型电子系统的电磁兼容故障诊断分析是个十分繁杂的过程,需要在多个环节进行反复的测试验证,特别是干扰源的定位是系统电磁兼容整改的重点和难点之一。以往在做干扰源定位时,往往需要电磁兼容经验十分丰富、对系统又十分了解的电磁兼容工程师做出合理的判断。这样的判断过程存在对人员的要求高、周期长、工作量大、误差难以控制等问题,可能会对整个系统的研制进度造成影响。
发明内容
本发明的目的是提供一种使用方便、周期短、成本低、误差可控的电磁兼容故障诊断系统中的干扰源辨识方法。
本发明的目的是这样实现的,系统级电磁兼容故障诊断中的干扰源辨识方法,其特征是:首先通过步骤101定位敏感设备;
步骤102,对定位敏感设备进行故障树分析;
步骤103,利用故障树分析得到耦合途径的优先级;
步骤104,测试得到干扰测试数据;
步骤105,将测试数据存入数据库;
步骤106,通过步骤102的故障树分析得出潜在干扰源;
步骤107,查找和确定干扰源优先级;
步骤108,结合步骤105和步骤107进行干扰源的辨识;
步骤109,判断是否为确知干扰信号,如果不是则进行步骤110,如果是则进行步骤111;
步骤110,进行环境监测;
步骤111,是确知的干扰信号则有针对性的制定电磁兼容整改方案,最后完成电磁兼容诊断。
所述的步骤102故障树分析包括如下步骤,其特征是:
步骤201,获取系统出现的受扰故障现象;
步骤202,分析确定耦合途径优先级;
步骤203,确定出现受扰故障现象的敏感设备;
步骤204,分析确定潜在干扰源;
步骤205,分析确定传导耦合途径优先级;
步骤206,分析确定辐射耦合途径优先级;
步骤207,分析确定辐射干扰源;
步骤208,分析确定传导干扰源。
所述的步骤108干扰源辨识,其算法流程包括如下步骤,其特征是:
步骤301,从模板数据库中取出模板数据;
步骤302,进行数据预处理;
步骤303,完成特征分类;
步骤304,进行特征提取;
步骤305,将所提取的模板数据特征存入模板特征库;
步骤306,获取测试数据;
步骤307,对测试数据进行预处理;
步骤308,对预处理后的测试数据进行特征分类;
步骤309,进行特征提取;
步骤310,将得到的测试数据特征和305所得模板特征进行加权相似度计算;
步骤311,得到加权相似度的计算结果和辨识结论。
所述的步骤304和309特征提取,其实现的具体方案流程包括如下步骤,其特征是:
步骤401,获得测试数据;
步骤402,对测试数据进行小波消噪,使数据更加光滑,从而消除测试曲线底部白噪声随机性大带来的辨识误差;
步骤403,判断是否为电台类设备,如果是则进行步骤404,如果不是则进行步骤406;
步骤404,完成电台类设备测试数据的峰值信号的包络和单调性处理;
步骤405,完成电台类设备测试数据的底噪的延拓调整,从而使测试曲线辨识能准确;
步骤406,提取测试数据的峰值特征;
步骤407,判断是否为电台类设备,如果是则进行步骤408,如果不是则进行步骤409;
步骤408,提取电台类设备测试数据的谐波特征;
步骤409,提取非电台类设备(比如电源类设备等)测试数据的包络特征;
步骤410,综合步骤406、408和409所提取出来的特征得到最终的特征提取结果。
所述的步骤404包络处理,包括如下步骤,其特征是:
步骤501,获得处理后的测试数据;
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安电子科技大学,未经西安电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210154156.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种集群重组的方法及装置
- 下一篇:用于界面高温变形测量的微尺度散斑制作方法