[发明专利]回转窑筒体动态轴线和弯曲的检测和监测方法及测量系统有效
申请号: | 201210157543.5 | 申请日: | 2012-05-21 |
公开(公告)号: | CN102654396A | 公开(公告)日: | 2012-09-05 |
发明(设计)人: | 张云;其他发明人请求不公开姓名 | 申请(专利权)人: | 武汉理工大学 |
主分类号: | G01B21/22 | 分类号: | G01B21/22 |
代理公司: | 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 | 代理人: | 张安国;伍见 |
地址: | 430070 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 回转 窑筒体 动态 轴线 弯曲 检测 监测 方法 测量 系统 | ||
1.一种回转窑筒体轴线和弯曲的动态检测和监测方法,在回转窑外建立直角坐标系X、Y、Z,在回转窑两侧建立2个间距为D的垂面Q和Q′,在X方向各Xi截面处,i=1、2……n,测量如下参数以确定回转窑筒体动态轴线坐标参数:回转窑水平和垂直直径线上外径边缘3个点分别到垂面Q和Q′及到各档水平基准平面的垂直距离、坐标系原点到各档水平基准面的高度Hi、各轮带与筒体的动态间隙,用1固定的位置传感器测定筒体旋转周期,其特征是:
(1) 平均横坐标Yi的确定:平行X轴的2个垂面Q和Q′平行于回转窑轴线,在垂直于X轴的X=Xi截面处与垂面Q和Q′相交于地面或其它构筑物上的各测点Xi和Xi′上,i=1、2……n,检测方法是用1个带微机的测距测角的仪器分别垂直于垂面Q和Q′,直接测定各轮带或筒体水平直径线上外径2个点到垂面Q和Q′的水平距离数据di(j)和di(j)′;同理,监测方法是用2i个带微机的测距测角的仪器垂直于垂面Q和Q′,同时直接测定各外径第2i个点到垂面Q和Q′的水平距离数据di(j)和di(j)′;按筒体旋转周期把筒体分为j等分角度来处理这些测量数据,j=1、2……m ,计算公式如下:
平均值di=[di(1)+ di(2)+……di(m)]/m ,
平均值di′=[di(1)′+di(2)′+……di(m)′]/m
垂面Q到各档筒体轴线的平均横坐标 Yi =[D+ di- di′]/2,其第j个分度处横坐标 Yi(j)= [D+ di(j )- di(j )′]/2;
(2) 平均纵坐标Zi的确定:
检测方法是分别在各Xi处的轮带或筒体正下方垂直安装1个短距离测量仪;同理,监测方法是同时在各坐标Xi处垂直安装第i个短距离测量仪;由短距离测量仪测定回转窑第j分度处的垂直距离Pi(j),按筒体旋转周期把筒体分为j等分角度来处理这些测量数据,用测距测角的仪器测定各档水平基准面Hi到各自距离测量仪的高度hi,计算公式如下:
平均垂直距离 Pi =[Pi(1)+ Pi(2)+……Pi(m)]/m,
轮带或筒体的平均半径 R i=(D- di- di′) /2,
坐标系原点到各档筒体轴线的平均纵坐标 Zi = Hi+hi+Pi +(R i -ψi/2) cos a
式中ψi为轮带动态间隙,当Xi不在轮带处则间隙ψi为0,a为窑体设计斜度。
2.(3)筒体弯曲的确定:
筒体水平偏移总量ΔYi(j)=Yi- Yi(j),筒体轮廓变形量ΔPi(j)=Pi -Pi(j),筒体弯曲量=筒体水平偏移总量ΔYi(j)-对应的筒体轮廓变形量ΔPi(j),把筒体旋转方位与筒体弯曲量同步关联,可得到筒体弯曲方位和变化的曲线。
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