[发明专利]用于距离测量的测量装置有效
申请号: | 201210157923.9 | 申请日: | 2012-05-21 |
公开(公告)号: | CN102809747B | 公开(公告)日: | 2018-01-30 |
发明(设计)人: | T·戈戈拉;S·蒂芬塔勒;R·斯特芬;H·塞弗尔特;G·舒塞尔 | 申请(专利权)人: | 喜利得股份公司;ESW有限公司 |
主分类号: | G01S17/08 | 分类号: | G01S17/08;G01S7/481 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 | 代理人: | 邓斐 |
地址: | 列支敦*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 距离 测量 装置 | ||
1.用于测量基准标记(9、10)与目标物体(4)之间的距离的测量装置(3),其包括:
射束源(25),该射束源构造成电子光学部件并且沿一光轴(31)发射激光射束(13);
探测器(26),该探测器构造成另外的电子光学部件并且接收沿一光轴(32)被所述目标物体(4)反射的和/或散射的接收射束(14);
射束整形光学器件(27),该射束整形光学器件将所述激光射束(13)和所述接收射束(14)沿一光轴(33)整形;以及
射束分裂光学器件(28;82),该射束分裂光学器件使所述激光射束(13)或者所述接收射束(14)偏转;
其特征在于:设置一光学器件支架(23;81),该光学器件支架具有用于固定所述电子光学部件(25;26)中的第一电子光学部件的第一安装座(35)和用于固定所述射束整形光学器件(27)的第二安装座(36),其中,所述光学器件支架(23;81)是构造为整体式的;
所述电子光学部件(25;26)中的第一电子光学部件和所述射束整形光学器件(27)至少在所述测量装置(3)的校准过程中在其安装座(35、36)中只能够沿相配的光轴(31、32)的方向进行调整。
2.如权利要求1所述的测量装置,其特征在于:所述射束分裂光学器件构造成包括开口(83)和反射涂层(84)的孔镜(82),其中,所述开口(83)被整合在光学器件支架(23)中,所述反射涂层(84)包围所述开口(83)。
3.如权利要求1所述的测量装置,其特征在于:在所述射束源(25)与所述射束分裂光学器件(28;82)之间的所述激光射束(13)的光路中设置有光阑(41;83),其中,该光阑(41;83)被整合在所述光学器件支架(23;81)中。
4.如权利要求1所述的测量装置,其特征在于:在所述射束源(25)与所述射束分裂光学器件(28;82)之间的所述激光射束(13)的光路中设置有光阱(42),其中,该光阱(42)被整合在所述光学器件支架(23)中。
5.如权利要求1所述的测量装置,其特征在于:所述光学器件支架(23;81)由金属材料构成。
6.如权利要求1所述的测量装置,其特征在于:所述光学器件支架(23;81)构造成压铸件。
7.如权利要求6所述的测量装置,其特征在于:所述光学器件支架(23;81)构造成由锌或者锌合金构成的压铸件。
8.用于测量基准标记(9、10)与目标物体(4)之间的距离的测量装置(3),其包括:
射束源(25),该射束源构造成电子光学部件并且沿一光轴(31)发射激光射束(13);
探测器(26),该探测器构造成另外的电子光学部件并且接收沿一光轴(32)被所述目标物体(4)反射的和/或散射的接收射束(14);
射束整形光学器件(27),该射束整形光学器件将所述激光射束(13)和所述接收射束(14)沿一光轴(33)整形;以及
射束分裂光学器件(28;82),该射束分裂光学器件使所述激光射束(13)或者所述接收射束(14)偏转;
其特征在于:设置一光学器件支架(23;81),该光学器件支架具有用于固定所述电子光学部件(25;26)中的第一电子光学部件的第一安装座(35)和用于固定所述射束整形光学器件(27)的第二安装座(36),其中,所述光学器件支架(23;81)是构造为整体式的;
用于固定所述射束整形光学器件(27)的所述第二安装座(36)具有第一支承面(61)、第二支承面(62)和夹紧面(63),其中,各支承面和夹紧面(61、62、63)被整合在所述光学器件支架(23;81)中。
9.如权利要求8所述的测量装置,其特征在于:所述光学器件支架(23;81)具有弹簧元件(64),该弹簧元件构成所述夹紧面(63)。
10.如权利要求8至9之任一项所述的测量装置,其特征在于:所述第二安装座(36)具有至少一个附加的导向面(65、66),该导向面被整合在所述光学器件支架(23;81)中。
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