[发明专利]一种基于异向介质的电控扫描天线有效

专利信息
申请号: 201210159423.9 申请日: 2012-05-18
公开(公告)号: CN102646869A 公开(公告)日: 2012-08-22
发明(设计)人: 华军;陈美良;唐卓;王二超;杨国辉;孟繁义;傅佳辉;吴群 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第三十六研究所;哈尔滨工业大学
主分类号: H01Q3/22 分类号: H01Q3/22;H01Q1/36
代理公司: 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 代理人: 牟永林
地址: 314033 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 介质 扫描 天线
【权利要求书】:

1.一种基于异向介质的电控扫描天线,其特征在于,它包括一个全向天线(1)、多个3-D频率选择结构单元(2)和多个变容二极管(3);

所述3-D频率选择结构单元(2)由片状环形基板(4)和多个铜质薄片(5)组成;

多个铜质薄片(5)均匀分成两组,其中一组中的多个铜质薄片(5)以片状环形基板(4)的圆心为中心均匀分布在其上表面,另一组多个铜质薄片(5)以片状环形基板(4)的圆心为中心均匀分布在其下表面,位于上表面的铜质薄片(5)和位于下表面的铜质薄片(5)一一对应;

多个3-D频率选择结构单元(2)以全向天线(1)为轴上下叠加组成圆筒结构,相邻两个3-D频率选择结构单元(2)之间的距离相同;位于相邻两个3-D频率选择结构单元(2)上同一位置的相邻两个铜质薄片(5)之间中心靠外侧之间焊接有一个变容二极管(3)。

2.根据权利要求1所述的一种基于异向介质的电控扫描天线,其特征在于,所述3-D频率选择结构单元(2)的片状环形基板(4)的内径为33.2毫米,外径为41.8毫米。

3.根据权利要求1所述的一种基于异向介质的电控扫描天线,其特征在于,所述片状环形基板(4)的相对介电常数是3.5,板厚1.274毫米,上下板中心位置间的距离为2.5毫米。

4.根据权利要求1所述的一种基于异向介质的电控扫描天线,其特征在于,所述全向天线(1)为偶极子对称天线。

5.根据权利要求1所述的一种基于异向介质的电控扫描天线,其特征在于,所述3-D频率选择结构单元(2)中位于上表面上的所有铜质薄片(5)的形状和面积均相同,位于下表面上的所有铜质薄片(5)的形状和面积均相同,并且,位于上表面的铜质薄片(5)与位于下表面的铜质薄片(5)的面积比为9/15.5。

6.根据权利要求1所述的一种基于异向介质的电控扫描天线,其特征在于,所述的变容二极管(3)的型号为BB857,偏压为1伏特~30伏特。

7.根据权利要求1所述的一种基于异向介质的电控扫描天线,其特征在于,所述的全向天线(1)的长度与多个3-D频率选择结构单元(2)组成的空心圆筒形结构的高度相同。

8.根据权利要求1所述的一种基于异向介质的电控扫描天线,其特征在于,所述环形基板(4)的材料为特氟龙。

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