[发明专利]用于光刻设备的对准信号处理装置及对准装置有效
申请号: | 201210159468.6 | 申请日: | 2012-05-22 |
公开(公告)号: | CN103425006A | 公开(公告)日: | 2013-12-04 |
发明(设计)人: | 程鹏;王海江;唐文力 | 申请(专利权)人: | 上海微电子装备有限公司 |
主分类号: | G03F9/00 | 分类号: | G03F9/00;G03F7/20 |
代理公司: | 北京连和连知识产权代理有限公司 11278 | 代理人: | 王光辉 |
地址: | 201203 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 光刻 设备 对准 信号 处理 装置 | ||
1.一种用于光刻设备的对准信号处理装置,其特征在于,包括:
一对准信号转换模块,用于将所述对准信号转换为一待解调信号;
一相位差检验模块,用于采集一参考信号,并检测所述待解调信号与所述参考信号的相位
差;
一参考信号再生模块,根据所述相位差对所述参考信号进行延迟并生成一正弦参考信
号;
一解调模块,用于根据所述正弦参考信号对所述待解调信号进行解调。
2.如权利要求1所述的用于光刻设备的对准信号处理装置,其特征在于,所述对准信号转换
模块包括:
一光电传感器,用于将所述对照信号转换为调制电流信号;
一前置放大器,用于将所述调制电流信号转换为调制电压信号;
一可变增益放大器,用于将所述调制电压信号调整至设定幅值;
一带通滤波器,用于滤除所述调制电压信号中的直流成分和其它干扰成分。
3.如权利要求1所述的用于光刻设备的对准信号处理装置,其特征在于,所述相位差检验模块包括一参考信号采样器和一相位差检测器。
4.如权利要求1所述的用于光刻设备的对准信号处理装置,其特征在于,所述参考信号再生模块包括一延时控制器以及一正弦信号生成器。
5.一种用于光刻设备的对准装置,包括:
一激光光源模块,用于提供照明光束;
一光学模块,用于将所述照明光束标记上,形成一光学信号;
一信号采集模块,用于将所述光学信号进行处理,获得对准信号;
一处理模块,用于将所述对准信号转换为一待解调信号,并根据一参考信号对所述待解调信号进行处理;
其特征在于,所述处理模块检测所述待解调信号与所述参考信号的相位差,根据所述相
位差对所述参考信号进行延迟并生成一正弦参考信号,利用所述正弦参考信号对所述待解调信号进行解调。
6.如权利要求5所述的对准装置,其特征在于,所述处理模块包括:一对准信号转换模块,
用于将所述对准信号转换为一待解调信号;一相位差检验模块,用于采集一参考信号,并检测所述待解调信号与所述参考信号的相位差;一参考信号再生模块,根据所述相位差对所述参考信号进行延迟并生成一正弦参考信号;一解调模块,用于根据所述正弦参考信号对所述待解调信号进行解调。
7.如权利要求6所述的对准装置,其特征在于,所述对准信号转换模块包括:一光电传感器,
用于将所述对照信号转换为调制电流信号;一前置放大器,用于将所述调制电流信号转换为调制电压信号;一可变增益放大器,用于将所述调制电压信号调整至设定幅值;一带通滤波器,用于滤除所述调制电压信号中的直流成分和其它干扰成分。
8.如权利要求6所述的对准装置,其特征在于,所述相位差检验模块包括一参考信号采样器
和一相位差检测器。
9.如权利要求6所述的对准装置,其特征在于,所述参考信号再生模块包括一延时控制器以及一正弦信号生成器。
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