[发明专利]基于Cu膜退火的SiC衬底上结构化石墨烯制备方法无效
申请号: | 201210160190.4 | 申请日: | 2012-05-22 |
公开(公告)号: | CN102674330A | 公开(公告)日: | 2012-09-19 |
发明(设计)人: | 郭辉;张克基;张玉明;张凤祁;雷天民;邓鹏飞 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | C01B31/04 | 分类号: | C01B31/04;H01L21/02 |
代理公司: | 陕西电子工业专利中心 61205 | 代理人: | 王品华;朱红星 |
地址: | 710071*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 cu 退火 sic 衬底 结构 化石 制备 方法 | ||
技术领域
本发明属于微电子技术领域,涉及半导体薄膜材料及其制备方法,具体地说是基于Cu膜退火的SiC衬底上结构化石墨烯制备方法。
技术背景
石墨烯出现在实验室中是在2004年,当时,英国曼彻斯特大学的两位科学家安德烈·杰姆和克斯特亚·诺沃消洛夫发现他们能用一种非常简单的方法得到越来越薄的石墨薄片。他们从石墨中剥离出石墨片,然后将薄片的两面粘在一种特殊的胶带上,撕开胶带,就能把石墨片一分为二。不断地这样操作,于是薄片越来越薄,最后,他们得到了仅由一层碳原子构成的薄片,这就是石墨烯。从这以后,制备石墨烯的新方法层出不穷,但使用最多的主要有以下两种:
一是化学气相沉积法提供了一种可控制备石墨烯的有效方法,它是将平面基底,如金属薄膜、金属单晶等置于高温可分解的前驱体,如甲烷、乙烯等气氛中,通过高温退火使碳原子沉积在基底表面形成石墨烯,最后用化学腐蚀法去除金属基底后即可得到独立的石墨烯片。通过选择基底的类型、生长的温度、前驱体的流量等参数可调控石墨烯的生长,如生长速率、厚度、面积等,此方法最大的缺点在于获得的石墨烯片层与衬底相互作用强,丧失了许多单层石墨烯的性质,而且石墨烯的连续性不是很好。
二是热分解SiC法:将单晶SiC加热以通过使表面上的SiC分解而除去Si,随后残留的碳形成石墨烯。然而,SiC热分解中使用的单晶SiC非常昂贵,并且生长出来的石墨烯呈岛状分布,孔隙多,层数不均匀,而且做器件时由于光刻工艺会使石墨烯的电子迁移率降低,从而影响了器件性能。
现有的石墨烯的制备方法,如申请号为200810113596.0的“化学气相沉积法制备石墨烯的方法”专利,公开的方法是:首先制备催化剂,然后进行高温化学气相沉积,将带有催化剂的衬底放入无氧反应器中,使衬底达到500-1200℃,再通入含碳气源进行化学沉积而得到石墨烯,然后对石墨烯进行提纯,即使用酸处理或在低压、高温下蒸发,以除去催化剂。该方法的主要缺点是:工艺复杂,需要专门去除催化剂,能源消耗大,生产成本高。
发明内容
本发明的目的在于针对上述现有技术的不足,提出一种基于Cu膜退火的SiC衬底上结构化石墨烯制备方法,以提高石墨烯表面光滑度和连续性、降低孔隙率,并免除在后续制造器件过程中要对石墨烯进行刻蚀的工艺过程,保证石墨烯的电子迁移率稳定,提高器件性能。
为实现上述目的,本发明的制备方法包括以下步骤:
(1)对SiC样片进行清洗,以去除表面污染物;
(2)在清洗后的SiC样片表面利用等离子体增强化学气相沉积PECVD淀积一层0.5-1μm厚的SiO2,作为掩膜;
(3)在掩膜表面涂一层光刻胶,再在掩膜上刻出与所需制作的器件的衬底形状相同的窗口,露出SiC,形成结构化图形;
(4)将开窗后的样片置于石英管中,并连接好各个装置,再对石英管加热至800-1000℃;
(5)对装有CCl4液体的三口烧瓶加热至60-80℃,再向三口烧瓶中通入Ar气,利用Ar气携带CCl4蒸汽进入石英管中,使CCl4与裸露的SiC反应30-120min,生成双层碳膜;
(6)将生成的双层碳膜样片置于缓冲氢氟酸溶液中以去除窗口以外的SiO2;
(7)将去除SiO2后的双层碳膜样片置于Cu膜上,再将它们一同置于Ar气中,在温度为900-1100℃下退火15-25分钟,使双层碳膜在窗口位置重构成双层结构化石墨烯,再将Cu膜从双层结构化石墨烯样片上取开。
本发明与现有技术相比具有如下优点:
1.本发明由于利用SiC与CCl4气体反应,因而生成的双层石墨烯表面光滑,孔隙率低。
2.本发明由于利用在Cu膜上退火,因而生成的碳膜更容易重构形成连续性较好的结构化石墨烯。
3.本发明由于选择性地生长了结构化石墨烯,因而制作器件时不再需要光刻,使得石墨烯中的电子迁移率不会降低,固制作的器件性能得到保证。
4.本发明使用的方法工艺简单,节约能源,安全性高。
附图说明
图1是本发明制备石墨烯的装置示意图;
图2是本发明制备石墨烯的流程图。
具体实施方式
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