[发明专利]一种利用化学腐蚀和化学镀的双参数测量光纤光栅传感器无效
申请号: | 201210160268.2 | 申请日: | 2012-05-22 |
公开(公告)号: | CN102680134A | 公开(公告)日: | 2012-09-19 |
发明(设计)人: | 周倩;宁提纲;李超;张婵;刘艳;谭中伟 | 申请(专利权)人: | 北京交通大学 |
主分类号: | G01K11/32 | 分类号: | G01K11/32;G01L1/24 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100044 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 利用 化学 腐蚀 参数 测量 光纤 光栅 传感器 | ||
1.一种利用化学腐蚀和化学镀的双参数测量光纤光栅传感器,其特征在于:
该光纤光栅传感器是由相位掩膜法制成的光纤布拉格光栅,它被均匀分成两部分,光纤布拉格光栅的左半部分(1)被氢氟酸溶液腐蚀直径变细,并在左半部分(1)上镀上一层金属保护膜(2),光纤布拉格光栅的右半部分(3)保持不变作为参考光纤光栅。
2.根据权利要求1所述的一种利用化学腐蚀和化学镀的双参数测量光纤光栅传感器,其特征在于:
该传感器的制作步骤如下:
步骤一 采用相位掩模板法制作出光纤布拉格光栅;
步骤二 将布拉格光栅的对应的左半部分放入氢氟酸溶液中进行化学腐蚀;
步骤三 在腐蚀后的光纤布拉格光栅表面吸附一层易氧化物质;
步骤四 在腐蚀后的光纤布拉格光栅表面生成一层薄金属层;
步骤五 对腐蚀后的光纤布拉格光栅进行化学镀金属。
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