[发明专利]液晶显示面板无效

专利信息
申请号: 201210162264.8 申请日: 2012-05-23
公开(公告)号: CN102692774A 公开(公告)日: 2012-09-26
发明(设计)人: 李冬 申请(专利权)人: 深圳市华星光电技术有限公司
主分类号: G02F1/1362 分类号: G02F1/1362;G02F1/13
代理公司: 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 代理人: 欧阳启明
地址: 518132 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 液晶显示 面板
【说明书】:

【技术领域】

发明涉及一种液晶显示面板领域,特别是涉及一种液晶显示面板的测试线路。

【背景技术】

液晶显示器(Liquid Crystal Display,LCD)已被广泛应用于各种电子产品中,液晶显示面板是液晶显示器的重要组成元件。

液晶显示面板制造商在液晶显示面板制成后,一般都要对液晶显示面板进行测试以尽早发现问题产品以减少后续制程的浪费。目前,在液晶显示面板的检测中,通常在液晶显示面板的阵列基板上设置测试线(Shorting Bar)210来连接液晶显示面板的信号线220,如图1所示。由测试线输入测试信号至信号线,以检测信号线是有断路或缺陷,在完成测试后,利用激光将切断该测试线与信号线的连接。

由于通过上述液晶显示面板的测试线路在检测液晶显示面板之后,需利用激光来切断测试线,因而增加一道激光切割的制程,而不利于液晶显示面板的产能和良率。

故,有必要提供一种液晶显示面板,以解决现有技术所存在的问题。

【发明内容】

本发明提供一种液晶显示面板,以解决现有液晶显示面板的检测问题。

本发明的主要目的在于提供一种液晶显示面板,所述液晶显示面板包括:

基板;

多条信号线,设置于所述基板上;

多个测试开关,连接于所述信号线;

至少一条测试线,连接于所述测试开关,用于向所述测试开关输入测试信号;以及

控制线,连接于所述测试开关,用于开启所述测试开关。

在本发明的一实施例中,所述测试开关为薄膜晶体管。

在本发明的一实施例中,所述测试开关具有源极、漏极及栅极,所述源极与所述测试线连接,所述漏极与所述信号线连接,所述栅极与所述控制线连接。

在本发明的一实施例中,当测试所述液晶显示面板时,控制信号是由所述控制线传至所述测试开关,以开启所述测试开关。

在本发明的一实施例中,信号线是数据线,所述控制信号的电平是高于8伏。

在本发明的一实施例中,信号线是栅极线,所述控制信号的电平是高于30伏。

在本发明的一实施例中,液晶显示面板还包括驱动电路组件,设置于所述基板的非显示区上,其中所述驱动电路组件的电性接点是接合于所述信号线。

在本发明的一实施例中,所述信号线具有金属端子,用于接收所述测试信号。

在本发明的一实施例中,所述至少一条测试线为两条测试线,其分别与两相邻的测试开关连接。

在本发明的一实施例中,所述至少一条测试线为三条测试线,所述液晶显示面板具有红色子像素、绿色子像素及蓝色子像素,所述测试线分别用于测试红色子像素、绿色子像素及蓝色子像素。

在本发明的一实施例中,所述信号线为数据线或者栅极线。

本发明的液晶显示面板在检测后可不需通过激光来切断测试线,以避免额外的激光切断步骤,因而可缩短液晶显示面板的制程时间,以提高液晶显示面板的产能,且可避免激光切断步骤对液晶显示面板的影响,以确保液晶显示面板的产品良率。再者,测试开关可与像素的主动组件同时形成,而不需增加额外的制程步骤。

为让本发明的上述内容能更明显易懂,下文特举优选实施例,并配合所附图式,作详细说明如下:

【附图说明】

图1为现有液晶显示面板的测试电路示意图;

图2为本发明液晶显示面板的优选实施例的部分示意图;以及

图3为本发明液晶显示面板的优选实施例的测试电路示意图。 

图4为本发明液晶显示面板的一实施例的测试电路示意图;以及

图5为本发明液晶显示面板的另一实施例的测试电路示意图。

【具体实施方式】

以下实施例的说明是参考附加的图式,用于例示本发明可用于实施的特定实施例。本发明所提到的方向用语,例如「上」、「下」、「前」、「后」、「左」、「右」、「内」、「外」、「侧面」等,仅是参考附加图式的方向。因此,使用的方向用语是用于说明及理解本发明,而非用于限制本发明。

在图中,结构相似的单元是以相同标号表示。

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