[发明专利]图像处理装置、射线照像图像捕获系统和图像处理方法有效

专利信息
申请号: 201210162756.7 申请日: 2012-05-23
公开(公告)号: CN102793553A 公开(公告)日: 2012-11-28
发明(设计)人: 田岛崇史 申请(专利权)人: 富士胶片株式会社
主分类号: A61B6/03 分类号: A61B6/03
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 夏东栋;陆锦华
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 图像 处理 装置 射线 捕获 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种图像处理装置,其包括:

层析图像生成部件,其从射线照像图像检测器获取多个第一射线照像图像,所述多个第一射线照像图像通过从被设置使得面向所述射线照像图像检测器的放射线照射部相对于在所述射线照像图像检测器上的被摄体从不同的角度照射放射线利用所述射线照像图像检测器来捕获,并且所述层析图像生成部件通过使用所述射线照像图像检测器的检测面作为基准重建所述多个第一射线照像图像来生成所述被摄体的多个层析图像;

显示处理部件,其在显示部件上显示通过由所述放射线照射部相对于在所述射线照像图像检测器上的所述被摄体从预定角度照射放射线而由所述射线照像图像检测器获取的第二射线照像图像;以及,

检测部件,其

(a)如果在所显示的第二射线照像图像上指定包括关心物体的关心区域,则通过将所述关心区域与作为与所述关心区域对应的所述多个层析图像中的区域的对应区域作比较来执行图像分析,并且基于图像分析的结果来检测出包括与所述关心区域类似的对应区域的层析图像,并且

(b)如果在所述第二射线照像图像上指定所述关心物体的关心位置,则通过将所述关心位置与作为对应于所述关心位置的所述多个层析图像中的位置的对应位置作比较来执行图像分析,并且基于图像分析的结果来检测出包括与所述关心位置类似的对应位置的层析图像。

2.根据权利要求1所述的图像处理装置,其中

(a1)如果所述关心区域的尺寸小于预定尺寸,则所述检测部件将其中各个像素的像素值等于或大于预定像素值的对应区域确定为与所述关心区域类似,并且

(b1)如果指定所述关心位置,则所述检测部件将其中各个像素的像素值等于或大于所述预定像素值的对应位置确定为与所述关心位置类似。

3.根据权利要求2所述的图像处理装置,其中,所述检测部件从检测结果排除在使用所述射线照像图像检测器的所述检测面作为基准重建的方向上相邻的层析图像。

4.根据权利要求2或3所述的图像处理装置,其中

(a2)如果检测到包括类似于所述关心区域的所述对应区域的多个层析图像,则所述检测部件设置包括所述关心区域并且大于所述预定尺寸的检测区域,并且基于所述检测区域的像素的像素值和所述对应区域的像素的像素值来执行图像分析,并且

(b2)如果检测到包括类似于所述关心位置的所述对应位置的多个层析图像,则所述检测部件设置包括所述关心位置的检测区域,并且基于所述检测区域的像素的像素值和所述对应位置的像素的像素值来执行图像分析。

5.根据权利要求1所述的图像处理装置,其中,如果所述关心区域的尺寸等于或大于预定尺寸,则所述检测部件基于所述关心区域的像素的像素值和所述对应区域的像素的像素值来执行图像分析。

6.根据权利要求1所述的图像处理装置,其中,如果所述检测部件的图像分析的结果指示没有与所述关心区域或所述关心位置类似的对应区域或对应位置,则所述层析图像生成部件减小用于生成层析图像的切片厚度,并且重新生成所述层析图像。

7.根据权利要求1所述的图像处理装置,其中,所述显示处理部件在所述显示部件上显示所检测出的层析图像。

8.根据权利要求7所述的图像处理装置,其中,如果所述检测部件检测到多个层析图像,则所述显示处理部件以从包括与所述关心区域或所述关心位置具有高度类似性的对应区域或对应位置的层析图像开始的顺序显示所检测出的层析图像。

9.根据权利要求1所述的图像处理装置,其中,所述预定角度是与所述射线照像图像检测器的所述检测面相交的方向的角度。

10.一种射线照像图像捕获系统,其包括:

射线照像图像捕获装置,其通过由设置使得面向所述射线照像图像检测器的放射线照射部相对于在所述射线照像图像检测器上的被摄体从不同角度照射放射线,通过射线照像图像检测器捕获多个射线照像图像;以及,

根据权利要求1所述的图像处理装置,其从所述射线照像图像生成层析图像。

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