[发明专利]光度计和操作方法在审

专利信息
申请号: 201210164527.9 申请日: 2007-07-26
公开(公告)号: CN102768185A 公开(公告)日: 2012-11-07
发明(设计)人: G·弗里曼;T·阿尔梅特 申请(专利权)人: 阿瓦尼斯实验室科技公司
主分类号: G01N21/25 分类号: G01N21/25;G01N21/76
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 周心志;谭祐祥
地址: 美国佛*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 光度计 操作方法
【权利要求书】:

1.一种光度计,其包括:

光子测量探测系统,

校准系统,其包括参考光源和光探测器,所述光探测器被定位以测量从所述参考光源所发射的光,其中所述探测系统产生参考光信号且所述参考光信号与随后从同一参考光源所探测的光做比较,以便允许生成用于在所述参考光源的当前测量值和所述参考光信号之间的任何探测误差的校准因数。

2.根据权利要求1所述的光度计,其特征在于还包括扩散器,且所述参考光源被定位成把光发射到所述扩散器中,并且所述光探测器测量从所述扩散器所发射的光。

3.根据权利要求1所述的光度计,其特征在于,所述参考光由隔离电路控制,所述隔离电路沿着预定轴线发射受控和预定的光,所述受控和预定的光然后能经由所述探测系统被探测到。

4.根据权利要求1所述的光度计,其特征在于,所述参考光源发射预定波长的光。

5.根据权利要求2所述的光度计,其特征在于,所述光探测器包括光电二极管用来监测穿过所述光扩散器所发射的光,且所测量的光提供信号用来调节到所述参考光源的输入电压,以便产生调节从所述参考光源所发射的光的强度的闭环系统。

6.根据权利要求1所述的光度计,其特征在于,所述参考光源邻近光轨系统定位,其中在测量位置定位多个井以从那里测量光子,并且来自所述参考光源的光穿过所述光轨中的孔发射并且与同所述探测系统关联的光纤电缆的输入侧下方直接对准,以便核实井被正确地定位在所述测量位置。

7.根据权利要求1所述的光度计,其特征在于,在使用所述光度计时所述校准系统自动测定参考LED的读数,并且如果新的读数不在所述参考光信号的预定的范围中,那么计算因数以因此调节所有的今后读数。

8.根据权利要求1所述的光度计,其特征在于还包括具有测量位置的轨道系统,具有多个井的多个带的承载器,以及驱动系统,所述驱动系统用以允许所述承载器相对于所述驱动系统的Y轴线运动,以便将所述多个井中的每一个定位成位于所述测量位置。

9.一种校准光度计的方法,所述方法包括步骤:

提供参考光源,

联合光探测器利用所述参考光源初始地产生参考测量值,

存储所述参考测量值,

随后打开所述参考光源且测量所发射的光,以由此生成当前测量值,

把所述当前测量值与所述参考测量值作比较,且

如果所述当前测量值与所述参考测量值相差达预定量,那么生成校准因数,且如果生成所述校准因数,那么利用所述光度计把所述校准因数应用到当前测量值上。

10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述参考光定位成将光发射到扩散器中,并且光电二极管监测从所述光扩散器所发射的光,且所测量的光提供信号用来调节到所述参考光源的输入电压,以便产生调节从所述参考光源所发射的光的强度的闭环系统。

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