[发明专利]片上系统验证装置和片上系统验证方法

说明书

技术领域

本发明涉及集成电路设计技术领域，具体而言，涉及片上系统验证装置和片上系统验证方法。

背景技术

在SOC（system on chip，片上系统）芯片的前期开发中，系统的调试验证是至关重要的，而此时整个SOC芯片的驱动软件系统还不完善，需要通过JTAG或EJTAG对SOC芯片进行在线调试，编程，download，debug等。为缩短开发周期，很多SOC产品的PCB往往排成产品的PCB，便于更接近于实际产品的验证。为降低成本，成品的PCB往往有严格的尺寸限制。而以往的EJTAG调试装置需要两边都需要支持IDC接口（2.54mm间距的双排插座）的插线进行连接，调试装置成本高，且SOC端接口需要占用较大的PCB板面积，给SOC系统的开发验证期带来很大的被动。

因此，如何缩短SOC系统的开发验证周期，以及降低验证装置的成本是本领域亟待解决的技术问题。

发明内容

考虑到上述背景技术，本发明的一个目的是提供一种片上系统验证装置，能够减小片上系统端接口所占的PCB板面积，降低产品验证开发成本。

有鉴于此，根据本发明的一个方面，提供了一种片上系统验证装置，包括：IDC接口，连接至驱动电路，用于输入或输出测试数据；单排插座，连接至所述IDC接口，实现所述IDC接口与片上系统之间的测试数据交互；驱动电路，用于调节所述IDC接口的驱动电流；跳线开关，连接至所述驱动电路，用于启动所述驱动电路的调节功能或将所述驱动电路接地，其中，所述驱动电路与所述跳线开关同时并联至所述IDC接口与所述单排插座之间的链路。

根据本发明的另一方面，还提供了一种片上系统验证方法，包括以下步骤：通过IDC接口和单排插座实现与片上系统之间的测试数据交互；在所述IDC接口与所述单排插座之间的链路上并联设置驱动电路和跳线开关，通过所述驱动电路调节所述IDC接口的驱动电流，通过所述跳线开关启动所述驱动电路的调节功能或将所述驱动电路接地，以调节从所述IDC接口输出的测试信号的驱动能力。

本发明通过支持JTAG和EJTAG标准协议且适用于各种ICE（集成设备电路）调试工具的IDC接口，利用驱动电路和跳线开关的灵活性，并通过小间距单排插座连接到SOC验证板，避免了以往采用两个IDC接口所占用PCB板较大空间的问题，也降低了开发成本，提高了SOC芯片前期开发验证的效率。

附图说明

图1是根据本发明实施例的片上系统验证装置的示意图；

图2是根据本发明实施例的片上系统验证装置中的IDC接口的示意图；

图3是根据本发明实施例的片上系统验证装置中的驱动电路的示意图；

图4A是根据本发明实施例的片上系统验证装置中的挑选开关的示意图；

图4B是根据本发明实施例的片上系统验证装置中的挑选开关的示意图；

图5是根据本发明实施例的片上系统验证装置中的单排插座的示意图；

图6是根据本发明实施例的片上系统验证方法的流程图。

具体实施方式

为了能够更清楚地理解本发明的上述目的、特征和优点，下面结合附图和具体实施方式对本发明进行进一步的详细描述。

在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明，但是，本发明还可以采用其他不同于在此描述的其他方式来实施，因此，本发明的保护范围并不受下面公开的具体实施例的限制。

下面结合附图和实施例对本发明做进一步说明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

图1是根据本发明实施例的片上系统验证装置的示意图。

如图1所示，根据本发明的实施例的片上系统验证装置，包括：IDC接口102，连接至驱动电路106，用于输入或输出测试数据；单排插座104，连接至所述IDC接口102，实现所述IDC接口102与片上系统110之间的测试数据交互；驱动电路106，用于调节所述IDC接口102的驱动电流；跳线开关108，连接至所述驱动电路106，用于启动所述驱动电路106的调节功能或将所述驱动电路106接地，其中，所述驱动电路106与所述跳线开关108同时并联至所述IDC接口102与所述单排插座104之间的链路。

利用可调电阻和跳线开关的灵活性，就无需采用两个IDC接口，而采用单排插座，减小了所占用PCB的空间，也降低了装置的成本。

其中，该IDC接口的具体结构可参考图2，图2是根据本发明实施例的片上系统验证装置中的IDC接口的示意图。