[发明专利]用于检测地下设施位置的设备和方法有效

专利信息
申请号: 201210166712.1 申请日: 2012-05-25
公开(公告)号: CN102998708A 公开(公告)日: 2013-03-27
发明(设计)人: 金平;金悦 申请(专利权)人: 利宇TEC株式会社
主分类号: G01V3/08 分类号: G01V3/08
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 丁文蕴;杜德海
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要:
搜索关键词: 用于 检测 地下 设施 位置 设备 方法
【权利要求书】:

1.一种用于检测地下设施的位置的方法,所述方法包括以下步骤:

计算磁性标记的每一个深度处的高斯值;

根据计算的高斯值,使用每一个深度处的每一个传感器测量磁场;

通过对测量的磁场进行因子分析来提取因子;

通过对提取的因子进行回归分析获得并且存储提取的变量值;和

根据存储的提取变量值和由所述传感器实时测量的值确定所述磁性标记的位置。

2.根据权利要求1所述的方法,其中,每一深度处的所述高斯值通过以下公式计算:

Bz=μ0M02[zz2+b2-z-L(z-L)2+b2].]]>

3.根据权利要求1所述的方法,其中,所述提取因子的步骤包括以下步骤:

根据所述传感器测量的磁场,通过进行主成分分析来提取第一因子;和

通过因子旋转,从所述提取的因子中提取第二因子,所述第二因子将用于所述因子分析中。

4.根据权利要求1所述的方法,其中,在所述确定所述磁性标记的位置的步骤中,如果由所述传感器实时测量的值符合以下回归公式,则确定所述磁性标记存在:

回归公式

Y2=a+bX2+c(a+bX1+cX3)。

5.根据权利要求4所述的方法,其中,在所述确定所述磁性标记的位置的步骤中,当符合上面的回归公式时,对应于所述提取的变量值的所述深度确定为所述磁性标记的位置。

6.一种用于检测地下设施的位置的设备,所述设备包括:

检测器,其包括至少三个用于检测从磁性标记产生的磁场的磁场传感器;和

主处理器,其用于通过进行因子分析和回归分析,将所述磁性标记的每一个深度处的每一个传感器的高斯值量化为一个数据,并且根据量化的数据,确定与从所述检测器输出的测量值相关的所述磁性标记的位置。

7.根据权利要求6所述的设备,其中,如果所述测量值符合以下回归公式,则所述主处理器确定所述磁性标记存在:

回归公式

Y2=d+cX2+f(a+bX1+cX3)。

8.根据权利要求7所述的设备,其中,当符合上述回归公式时,所述主处理器确定对应于所述量化的数据的所述深度为所述磁性标记的位置。

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