[发明专利]用于检测残像的液晶模组检测装置、检测评定系统及方法有效
| 申请号： | 201210168213.6 | 申请日： | 2012-05-25 |
| 公开（公告）号： | CN102682683A | 公开（公告）日： | 2012-09-19 |
| 发明（设计）人： | 张培林;柳在健 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 王莹 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 检测 液晶 模组 装置 评定 系统 方法 | ||
1.一种用于检测残像的液晶模组检测装置，其特征在于，该装置包括：
密封隔热透明容器，用于容纳待测液晶模组；
温度控制模块，用于对所述容器内的温度进行调节；
信号发生模块，用于为所述待测液晶模组提供驱动信号。
2.如权利要求1所述的用于检测残像的液晶模组检测装置，其特征在于，所述温度控制模块包括：温度控制单元和温度调节单元，其中，
所述温度控制单元用于感应所述容器内的温度，并根据感应到的温度开闭所述温度调节单元；
所述温度调节单元与所述温度控制单元相连，用于对所述容器内的温度进行调节。
3.如权利要求2所述的用于检测残像的液晶模组检测装置，其特征在于，所述温度控制单元集成于所述容器内。
4.如权利要求2所述的用于检测残像的液晶模组检测装置，其特征在于，所述温度调节单元集成于所述容器内。
5.如权利要求1所述的用于检测残像的液晶模组检测装置，其特征在于，所述信号发生模块集成于所述容器内。
6.如权利要求2所述的用于检测残像的液晶模组检测装置，其特征在于，所述温度控制单元包括：温度传感器和控制器，其中，
所述温度传感器用于感应所述容器内的温度，并将感应到的温度数据发送至所述控制器；
所述控制器，根据所述温度数据开闭所述温度调节单元。
7.如权利要求6所述的用于检测残像的液晶模组检测装置，其特征在于，所述信号发生模块为可编程逻辑控制器。
8.如权利要求7所述的用于检测残像的液晶模组检测装置，其特征在于，所述控制器与所述信号发生模块为同一块可编程逻辑控制器。
9.一种用于检测残像的液晶模组检测评定系统，其特征在于，该系统包括权利要求1-8任一项所述的装置。
10.一种用于检测残像的液晶模组检测评定方法，其特征在于，该方法包括步骤：
S1.将待测液晶模组放入密封隔热透明容器内；
S2.为所述待测液晶模组提供驱动信号，将所述待测液晶模组点亮；
S3.感应所述容器内的温度，若感应到的温度未达到检测温度基准范围，则等待；若感应到的温度超出了所述检测温度基准范围，则调节所述容器内的温度，直至感应到的温度位于检测温度基准范围内，开始对所述待测液晶模组的检测。
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