[发明专利]一种扫描切片测试数据编码方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及集成电路测试领域，特别涉及一种扫描切片测试数据编码方法及装置。

背景技术

随着集成电路设计规模的增大，测试数据量呈指数级增长，这导致了传统外部ATE（Automatic Test Equipment,自动测试设备）面临着存储空间不足、IO(Input Output,输入输出)带宽有限以及测试时间过长等严峻的问题，测试成本越来越高。

测试数据编码是解决上述问题的有效方法之一，对于包含多条扫描链的待测电路，使用广播式扫描方法并行将输入数据广播至不同扫描中，能够有效减少数据传输时间以及降低对ATE存储容量的要求。测试数据中通常包含大量的无关位（X-bit），这些无关位可以被任意赋值为0或1而不会影响故障覆盖率。因此选取适当的机制并结合相应的无关位填充策略，能够有效提高数据编码效率。

现有技术中有一种DURS（Dynamic Updating Reference Slices，动态更新扫描切片的数据编码方法）。DURS方案使用三个参考切片并利用各扫描切片与参考切片的相容性关系进行编码。在解码电路中通过一个FSM（Finite Status Machine，有限状态机）对输入数据进行解码，进而配置多路选择器以选通CUT（Circuit Under Test，待测电路）的扫描切片与所对应的参考切片的通路。

DURS方案的主要缺点是，当扫描切片与三个参考切片均不相容时，码字不能实现编码效果，同时需要将该切片的数值依次注入至参考切片中来完成更新，因而对无相容性的参考切片的解码消耗时间比较长，而且由三个参考切片以及3选1的多路选择器所引入的硬件资源开销较高。可见现有技术对数据的挖掘不足，编码效率还有提升的空间。

发明内容

针对上述问题，本发明的目的在于提供一种扫描切片测试数据编码方法以及一种扫描切片测试数据编码装置。

在第一方面，本发明实施例提供一种扫描切片测试数据编码方法，所述方法利用了对所述扫描切片进行相容性分析的第一参考切片和第二参考切片，所述方法包括步骤：从第一个扫描切片开始，依次分析各当前扫描切片与所述第一参考切片或者第二参考切片的相容性关系，并根据所述当前扫描切片的相容性关系分析结果生成用于分析后一个扫描切片相容性关系的第一参考切片和第二参考切片，所述相容性关系分析结果包括与第一参考切片直接相容、与第二参考切片直接相容、与第一参考切片移位相容、与第二参考切片移位相容以及与第一参考切片和第二参考切片都不相容，其中，所述直接相容的类型包括直接相等和直接互补，移位相容的类型包括移位相等和移位互补;待所述所有分析扫描切片的相容性关系和生成用于分析后一个扫描切片相容性关系的第一参考切片和第二参考切片的过程结束后，从倒数第二个扫描切片开始，依次根据所述当前扫描切片相容性分析结果，以及用于分析后一个扫描切片相容性关系的第一参考切片或第二参考切片，对所述用于分析当前扫描切片相容性关系的第一参考切片或第二参考切片中的无关位进行回溯赋值；待所述对所有参考切片中的无关位回溯赋值过程结束后，根据所述当前扫描切片的相容性分析结果，以及所述用于分析后一个扫描切片相容性关系的第一参考切片或第二参考切片对当前扫描切片进行编码；如果所述当前扫描切片的相容性分析结果为不相容，则当前扫描切片的编码码字由用于表征所述不相容性的比特以及所述用于分析后一个扫描切片相容性关系的第一参考切片组成；如果所述当前扫描切片的相容性分析结果为与第一/第二参考切片直接相容，则当前扫描切片的编码码字由用于表征其相容性分析结果的比特、用于表征所述直接相容的类型的比特组成；如果所述当前扫描切片的相容性分析结果为与第一/第二参考切片移位相容，则当前扫描切片的编码码字由用于表征其相容性分析结果的比特、用于表征所述移位相容类型的比特，以及所述用于分析后一个扫描切片相容性关系的第一/第二参考切片的第一位组成。