[发明专利]测试模式信号系统以及传送测试模式信号的方法

说明书

技术领域

本发明涉及内存装置，特别涉及具有减少测试模式信号线数量的内存装置。

背景技术

一般来说，为了在将内存装置（memory device）初始化（initialization）的期间（或是在重新设定（reset）内存装置之后）测试内存装置中个别电路的完整性（integrity），会产生不同的测试模式信号（test mode signal）。上述的测试模式信号由一测试模式功能方块（test mode block，TM block）所产生，而一内存装置中可能会有单一个或多个测试模式功能方块。此外，无论测试模式功能方块的数量的多寡，测试模式功能方块通常会位于芯片（chip）中央的附近，因此，得以轻易地将测试模式信号配送（route）至内存装置上所有的电路。由于内存装置中电路的数量与日俱增，所以信号配送（routing）变得较为复杂，再加上半导体组件尺寸微缩的因素，使得信号配送的问题显得更为棘手。

发明内容

本发明提供一种测试模式信号系统，其包含一测试模式功能方块、一测试模式传送功能方块以及一测试信号接收功能方块。所述测试模式功能方块用以产生多个（N个）测试模式信号。所述测试模式传送功能方块用以依据一指令信号来产生及输出一脉冲信号、依据所述脉冲信号来将所述N个测试模式信号多路复用处理为多个信号集，以及将所述多个信号集于M条信号线上输出，其中M小于N，使得每一信号线均挟带所述N个测试模式信号之中经由多路复用处理的一信号集。所述测试信号接收功能方块用以接收所述N个测试模式信号中经由多路复用处理的所述多个信号集及所述脉冲信号，以及依据所述脉冲信号来将所述N个测试模式信号之中经由多路复用处理的每一信号集进行解多路复用处理。

本发明还提供一种用来传送多个测试模式信号的方法，其包含：接收一指令信号；依据所述指令信号来产生及输出一脉冲信号；产生多个（N个）测试模式信号；依据所述脉冲信号来将所述N个测试模式信号多路复用处理为多个信号集；将所述多个信号集于M条信号线上输出，其中M小于N，使得每一信号线均挟带所述N个测试模式中经由多路复用处理的一信号集；接收所述N个测试模式之中经由多路复用处理的所述多个信号集以及所述脉冲信号；以及依据所述脉冲信号来将所述N个测试模式之中经由多路复用处理的每一信号集进行解多路复用处理。

本发明利用位于测试模式传送功能方块与测试模式接收功能方块之中的多个多路复用器以及产生于上述两功能方块之间的一脉冲信号，得以在单一信号线上将多个信号进行多路复用处理，并利用所述脉冲信号以及位于接收端的多个多路复用器，来将经由多路复用处理的信号独立地进行闩锁及解码，这样，测试模式信号系统所需的电路面积便可大幅减少。

附图说明

图1是本发明位在一内存装置之中的一测试模式信号系统的一实施例的示意图。

图2、图3与图4A～4C是图1所示的测试模式传送功能方块的内部电路的示意图。

图5是图2、图3与图4A～4C所产生的信号的时序图。

图6是图1所示的测试模式接收功能方块的内部电路的示意图。

图7是图6所产生的信号的时序图。

其中，附图标记说明如下：

100                                测试模式信号系统

110                                测试模式功能方块

130                                测试模式传送功能方块

150                                测试模式接收功能方块

200、300                           电路

210、310、625、635                 闩锁器

220、360、380                      延迟功能方块

230、250、320、365、390、419、615  反相器

240、330、340、370                 与非门

350、417、427、437                 多路复用器

415、425                           多路复用处理电路

具体实施方式