[发明专利]一种IC芯片自动测试分选机

权利要求书

1.一种IC芯片自动测试分选机，其特征在于，包括：

上料实托盘分离输入装置，包括两条托盘传送带，在两条托盘传送带的外侧设有多个通过伸缩将托盘托住或松开、受控于第一气缸的伸缩托块，在两条托盘传送带之间设有受控于第二气缸并可将托盘托起使其高于托盘传送带水平端面的托板，所述托板具有一个低于托盘传送带水平端面的位置，满载芯片的托盘分离后被传送到位；

用于放置到位托盘中的芯片的料船模组装置，包括受控于伺服电机左右摆动的用于放置待测芯片的左料船和用于放置测试后芯片的右料船；

用于将左料船中的待测芯片抓起放入测试机中测试的测试抓手组合模组装置，包括至少一个测试抓手组合运动模组，所述测试抓手组合运动模组包括安装板，还包括测试抓手总成组合升降滑块、测试抓手总成组合左右移动滑块，所述安装板的上方设有可将测试抓手总成组合升降滑块上下移动的垂直移动装置；所述安装板的下方设有将测试抓手总成组合左右移动滑块水平移动的水平移动装置；还设有下端固联有测试抓手总成装置的测试抓手总成组合连接板，所述测试抓手总成组合连接板垂直导轨式地卡合与测试抓手总成组合左右移动滑块，其上端水平导轨式地卡合与测试抓手总成组合升降滑块；

用于放置右料船中测试合格芯片的合格品分类收集模组，以及用于放置测试不合格芯片的次品分类收集模组。

2.根据权利要求1所述的自动测试分选机，其特征在于：上料实托盘分离输入装置中，所述两条托盘传送带的外侧分别设有两条支撑导轨，所述伸缩托块通过第一气缸连接在支撑导轨上；所述伸缩托块为4个，两两设置在两条支撑导轨上，所述4个伸缩托块的外侧分别设有一个截面呈L形的料仓板，围成一料仓；所述支撑导轨上设有用于防止托盘滑出的托盘导向挡边。所述支撑导轨的端部设有用于防止托盘继续传送的托盘限位块；所述支撑导轨的端部设有托盘到位对射传感器；所述支撑导轨上还设有可将托盘挤在托盘限位块、托盘导向挡边中的托盘推送到位气缸；所述第二气缸为三位气缸，其和托板的底板固联。

3.根据权利要求1所述的自动测试分选机，其特征在于：所述测试抓手组合模组装置中，所述垂直移动装置、水平移动装置为受控于伺服电机的竖向滚轴丝杠滑块组合传动、横向滚轴丝杠滑块组合传动，所述测试抓手总成组合升降滑块和竖向滚轴丝杠滑块组合传动配合，所述测试抓手总成组合升降滑块上位于竖向滚轴丝杠滑块组合传动的两侧和安装板导轨式配合；所述测试抓手总成组合左右移动滑块和横向滚轴丝杠滑块组合传动配合，所述测试抓手总成组合左右移动滑块上位于横向滚轴丝杠滑块组合传动的两侧和安装板导轨式配合。

4.根据权利要求1或3所述的自动测试分选机，其特征在于：所述测试抓手组合模组装置包括用于抓料、放料的测试抓手总成装置，包括上部总成，所述上部总成包括连通外部气路并封装在缸筒内的活塞，套装在活塞向下延伸的活塞杆上的压缩弹簧和缸筒卡合，所述活塞杆穿出缸筒的底端并固联有下部总成，包括外壳，以及封装在外壳内并连通有外部真空接头的吸嘴杆，所述吸嘴杆包括分别位于上下两端的上部杆和下部杆，以及位于上部杆、下部杆之间的卡合部，所述卡合部卡住外壳底端的内壁并使下部杆穿出外壳底端外壁设置的吸嘴外套，所述卡合部上方的上部杆套装有压缩弹簧并和伸入外壳顶端设置的通孔中，压缩弹簧卡合住外壳顶端的内壁，使吸嘴杆可在外壳中上下移动。

5.根据权利要求1所述的自动测试分选机，其特征在于：还设有用于将到位托盘中的芯片抓取的上料抓手平台装置，包括可调四抓手装置，还包括使可调四抓手装置沿y方向运动的y方向运动平台以及，使可调四抓手装置沿x方向运动的x方向运动平台；所述x方向运动平台和y方向运动平台相对固定在一起；所述料船模组装置的左料船位于y方向运动平台和x方向运动平台的运动路径中。

6.根据权利要求5所述的自动测试分选机，其特征在于：所述y方向运动平台和x方向运动平台的运动路径中还设有给测试芯片加热、控温的加热平台装置。