[发明专利]液晶显示面板的检测方法无效
| 申请号： | 201210174052.1 | 申请日： | 2012-05-30 |
| 公开（公告）号： | CN102681227A | 公开（公告）日： | 2012-09-19 |
| 发明（设计）人： | 黄皓;刘纯;潘昶宏 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G01R31/02 |
| 代理公司： | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人： | 何青瓦;丁建春 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市光明新区公*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 液晶显示 面板 检测 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种液晶显示面板的检测方法，其特征在于，包括：
提供一个全接触点灯治具，其中所述全接触点灯治具包括多个探针；以及
利用所述全接触点灯治具上的所述探针接触所述液晶显示面板上的面板端子，以执行点灯检测。
2.根据权利要求1所述的液晶显示面板的检测方法，其特征在于，所述全接触点灯治具进一步电性连接至印刷电路板，以利用所述印刷电路板所提供的点灯信号而执行所述点灯检测。
3.根据权利要求2所述的液晶显示面板的检测方法，其特征在于，所述全接触点灯治具通过COF封装基板而电性连接至印刷电路板，以执行所述点灯检测。
4.根据权利要求1所述的液晶显示面板的检测方法，其特征在于，所述液晶显示面板通过所述连接端子而电性连接所述液晶显示面板的驱动IC基板。
5.根据权利要求4所述的液晶显示面板的检测方法，其特征在于，所述驱动IC基板包括位于X轴的源极驱动IC和位于Y轴的栅极驱动IC。
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