[发明专利]氮化物半导体发光元件有效
申请号: | 201210174858.0 | 申请日: | 2012-05-30 |
公开(公告)号: | CN103187502A | 公开(公告)日: | 2013-07-03 |
发明(设计)人: | 徐志豪;宣融;张郁香;黄荣俊;陈俊颖 | 申请(专利权)人: | 财团法人工业技术研究院 |
主分类号: | H01L33/40 | 分类号: | H01L33/40;H01L33/32;H01L33/02 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 梁挥;祁建国 |
地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 氮化物 半导体 发光 元件 | ||
1.一种氮化物半导体发光元件,其特征在于,包括:
N型氮化物半导体层;
P型氮化物半导体层;
发光半导体层,配置于该N型氮化物半导体层与该P型氮化物半导体层之间;
第一金属垫,与该N型氮化物半导体层电性连接;
第二金属垫,与该P型氮化物半导体层电性连接;以及
第一磁性材料层,配置于该第一金属垫与该N型氮化物半导体层之间,其中该第一磁性材料层平行于该N型氮化物半导体层的(0001)面的分布面积大于或等于该第一金属垫平行于该(0001)面的面积。
2.如权利要求1所述的氮化物半导体发光元件,其特征在于,该第一磁性材料层的材料包括掺杂磁性元素的化合物,该磁性元素包括过渡金属、稀土金属或其组合,而该化合物包括CuAlO2、CuGaO2、AgInO2、SrCu2O2、Cd2SnO4、In2O3、TiO2、Cu2O、ZnO、SnO2、CdO、ZnO、MnSe、ZnSe、CdSe、MgSe、ZnTe、MnTe、MgTe、CdTe、CdS、ZnS、HgS、HgSe、HdTe、NiO、MnO、GaN、InN、AlN、InAs、GaAs、AlAs、GaP、InP、GaSb、AlSb、InSb、Si、Ge、SiGe、SiC、石墨烯、纳米碳管、巴克球、Bi2Te3、Bi2Se3、Sb2Te3、Sb2Se3、钇钡铜氧化物(YBCO)、铋锶钙铜氧化物(BSCOO)、HgBaCaCuO (HBCCO)、FeAs、SmFeAs、CeFeAs、LaFeAs、MgB或其组合。
3.如权利要求1所述的氮化物半导体发光元件,其特征在于,该第一磁性材料层的材料包括Co、Fe、Ni、Mn、NiFe、CoFe、CoFeB、SmCo、NdFeB、式ΩFeN、式ΩFeC、CrO2、Fe3O4、式La1-xΦxMn、式Ψ2ΔΣO6、GdN、NiMnSb、PtMnSb、Fe 1-xCoxSi、Fe2CrSi、Co2MnSi、式Fe2ΘSi、Cr2O3、TbMnO3、HoMn2O5、HoLuMnO3、YMnO3、DyMnO3、LuFe2O4、BiFeO3、BiMnO3、BaTiO3、PbVO3、PrMnO3、CaMnO3、K2SeO4、Cs2Cdl4、BaNiF4、ZnCr2Se4或其组合,其中该Ω在式ΩFeN及式ΩFeC中代表Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Tb、Dy、Ho、Er、Tm或Yb,该Φ在式La1-xΦxMn中代表Ca、Ba或Sr,x在式La1-xΦxMn中大约为0.3,该Ψ在式Ψ2ΔΣO6中代表Ca、Sr、或B,该Δ在式Ψ2ΔΣO6中代表Co或Fe,该Σ在式Ψ2ΔΣO6中代表Mo或Re,该Θ在式Fe2ΘSi中代表Cr、Mn、Fe、Co或Ni,而x在Fe1-xCoxSi中大于0且小于1。
4.如权利要求1所述的氮化物半导体发光元件,其特征在于,该第一磁性材料层在与该(0001)面垂直的方向上的厚度的范围为20纳米(nm)至1微米(μm)。
5.如权利要求1所述的氮化物半导体发光元件,其特征在于,该第一磁性材料层的材料包括掺杂Co的ZnO、掺杂Mn的ZnO或其组合。
6.如权利要求1所述的氮化物半导体发光元件,其特征在于,该第一磁性材料层平行于该N型氮化物半导体层的该(0001)面的分布面积大于或等于该第二金属垫平行于该(0001)面的面积。
7.如权利要求1所述的氮化物半导体发光元件,其特征在于,更包括第二磁性材料层,其配置于该第二金属垫与该P型氮化物半导体层之间,其中该第二磁性材料层平行于该N型氮化物半导体层的该(0001)面的分布面积大于或等于该第二金属垫平行于该(0001)面的面积。
8.如权利要求7所述的氮化物半导体发光元件,其特征在于,该第二磁性材料层在垂直于该(0001)面的方向上的厚度的范围为20纳米(nm)至0.6微米(μm)。
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