[发明专利]一种材料电磁参数测量系统

权利要求书

1.一种材料电磁参数测量系统，其特征在于：包括发射天线、接收天线以及位于发射天线和接收天线之间的样品支架，被测样品设置于样品支架上；所述样品支架上除被测样品所占表面外，其他表面均被吸波材料覆盖。

2.如权利要求1所述的测量系统，其特征在于：所述接收天线和发射天线同轴设置，所述被测样品长度大致等于发射天线和接收天线口径面直径。

3.如权利要求1或2所述的测量系统，其特征在于：所述吸波材料为吸波海绵。

4.如权利要求1或2所述的测量系统，其特征在于：所述吸波材料包括基材以及周期排布于基材两相对侧表面的第一金属微结构和第二金属微结构，所述第一金属微结构包括相互垂直而连接成“十”字形的两个第一金属分支，分别连接在所述第一金属分支两端且垂直于所述第一金属分支的第二金属分支；所述第二金属微结构由一边具有缺口的四边形状的第三金属分支构成。

5.如权利要求4所述的测量系统，其特征在于：所述第一金属微结构的第二金属分支中点分别设于其所连接的该第一金属分支的端点，第二金属微结构由一边中点具有缺口的正方形状的第三金属分支构成。

6.如权利要求1或2所述的测量系统，其特征在于：所述吸波材料包括基材以及周期排布于基材一侧表面的第三金属微结构，所述第三金属微结构包括第一金属分支，所述第一金属分支构成一边具有缺口的四边形状；一端设于该缺口相对的四边形边上并向该缺口延伸且突出该缺口的第二金属分支；垂直于所述第二金属分支另一端的第三金属分支。

7.如权利要求6所述的测量系统，其特征在于：所述第三金属微结构以第二金属分支为对称轴成左右对称结构。

8.如权利要求4所述的测量系统，其特征在于：所述基材为FR-4材料、铁电材料、铁氧材料或陶瓷材料。

9.如权利要求6所述的测量系统，其特征在于：所述基材为FR-4材料、铁电材料、铁氧材料或陶瓷材料。

10.如权利要求8所述的测量系统，其特征在于：所述第一金属微结构和第二金属微结构通过蚀刻、钻刻、电子刻或离子刻附着于基材两相对侧表面上。