[发明专利]一种用于电缆网络的导通绝缘测试方法有效

专利信息
申请号: 201210176715.3 申请日: 2012-05-31
公开(公告)号: CN102680859A 公开(公告)日: 2012-09-19
发明(设计)人: 訚梦楠;刘波;何晨;王瑞;宋世民 申请(专利权)人: 北京空间飞行器总体设计部
主分类号: G01R31/08 分类号: G01R31/08;G01R31/12
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 安丽
地址: 10008*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 电缆 网络 绝缘 测试 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种用于电缆网络的导通绝缘测试方法。

背景技术

大型系统工程如航空、航天、建筑、电气工程等领域复杂多样的电缆网系统为硬件设备的互联提供供电及信号传输通路,为了保证供电及信号的安全可靠性,使用前需要对整个电缆网进行检查。

传统的导通测试方法,不仅不能实现长传输电缆网的导通测试,并且对于多点并接线还需要对线阻进行阻值的计算,且获得的计算结果与实际线阻存在误差,对于长线供电电缆网来说,阻值精度要求严格,供电过程中,误差值可能引起线压降过大,导致供电能力不足,对供电设备造成伤害。

并且传统的测试方法对电缆网测试环境要求苛刻,导通不能实现远距离长线传输及单端的电缆网检查,绝缘测试需要逐一进行每个接插件上的每个接点对其余全部接点的单点对单点,单点对多点的绝缘检查,测试方法复杂并且占用测试时间较长。且传统测试方法的安全可靠性差,覆盖不全面,人力物力时间资源利用率低。

发明内容

本发明的技术解决问题是:针对现有技术的不足,提供了一种用于电缆的导通绝缘测试方法,简化了对电缆网络的导通绝缘测试流程。

本发明的技术解决方案是:

在导通测试中:

(1A)将被测电缆网络中一个或多个终端的接插件接点全部短接,将其余终端上的接插件与转接盒的测试端对应相连,所述转接盒包括测试端和公共端,所述测试端与所述公共端一一对应,并可通过开关控制测试端与公共端的连通;

(1B)将所述转接盒的公共端进行短接,并将在所述电缆网络中的并接接插件接点相连的测试端闭合,所述并接接插件接点用于在所述电缆网络中传输同一信号;

(1C)选取转接盒中的测试端任一接点作为基准点,并利用万用表测量基准点的回路阻值,并确定基准点阻值;

(1D)选择被测接插件信号接点,利用万用表测量与被测接插件相连的测试端信号接点与基准点的阻值作为测试阻值;

(1E)将获得的测试阻值减去万用表测试的线路阻值及所述基准点阻值得到被测接插件的实际阻值,根据被测接插件信号接点的实际阻值确定被测接插件的导通状态;

在绝缘测试中:

(2A)将被测电缆网络中一个或多个终端的接插件对应连接至转接盒的测试端;

(2B)将转接盒的公共端全部短接,并将转接盒上全部测试端与对应的公共端闭合;

(2C)利用兆欧表对全部测试端进行绝缘检查。

本发明与现有技术相比具有如下优点:

本发明通过对电缆网络进行导通和绝缘测试实现了对电缆网络的通路阻值和绝缘耐压性能的全面验证,并可进一步体现工程应用中电缆网络的可靠性能,同时大大减少了人力物力时间资源利用问题。

在导通测试中,采用远端接插件短接近端接插件并联的测试方法,解决了在复杂电缆及电缆网的导通测试,更适用于远程复杂电缆网测试,效果更加突出。并且与以往的电缆测试相比,本测试方法适用灵活,已达到测试流程的通用化及简便化。

在绝缘测试中,采用近端短接一对多,多对一的测试方法,解决了多单点及多并点的电缆网测试覆盖性及繁琐问题,针对复杂接点电缆网测试更见成效。

附图说明

图1为本发明流程图,其中,图1a为导通测试流程图,图1b为绝缘测试流程图;

图2为导通测试连接图;

图3为绝缘测试连接图。

具体实施方式

下面就结合附图对本发明做进一步介绍。

如图1a为本发明导通测试流程图,过程如下:

步骤1A:将被测电缆网络按图2所示与转接盒进行连接,其中,电缆网络包括两个终端,将其中一个终端的接插件接点全部短接,将另一终端上的接插件与转接盒的测试端对应相连,所述转接盒包括测试端和公共端,在转接盒内部,测试端与所述公共端通过开关一一对应相连,利用开关控制测试端与公共端的连通。若对于卫星发射塔架复杂长线电缆网络,将塔架上电缆网络终端接插件使用全短路头全部短接,在发射塔架下电缆网络的n个终端接至转接盒上测试端。

步骤1B:将上述转接盒的公共端利用短路头进行短接,同时将与在电缆网络中的传输同一信号的并接接插件相对应的测试端闭合。

步骤1C:选取转接盒中的测试端任一接点作为基准点,利用万用表测量基准点的回路阻值作为基准点阻值。测试时,万用表选择“自动量程”欧姆档,使用负表笔任选转接盒测试端一点作为基准点,正表笔任选转接盒测试端一点作为基准点回路点进行基准点阻值测量。

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