[发明专利]光谱测量系统无效
申请号: | 201210177561.X | 申请日: | 2012-06-01 |
公开(公告)号: | CN103424188A | 公开(公告)日: | 2013-12-04 |
发明(设计)人: | 张文君;翟保才;董洪波;许键 | 申请(专利权)人: | 上海理工大学 |
主分类号: | G01J3/28 | 分类号: | G01J3/28 |
代理公司: | 上海德昭知识产权代理有限公司 31204 | 代理人: | 郁旦蓉 |
地址: | 200093 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 光谱 测量 系统 | ||
1.一种由实验室的基础测量仪器构成的用于测量待测光信号的光谱测量系统,其特征在于,包括:
光学斩波器,将所述待测光信号转化为周期性的交变光信号;
单色仪,将所述交变光信号分光成一系列不同波段的单色光信号,所述不同波段的集合为所述待测光信号所处的总波段;
探测器,连续探测所述不同波段的单色光信号并将所述不同波段的单色光信号转变为相应波段内相应强度的不同电信号;
锁相放大器,放大所述电信号;
数据采集卡,采集和传输经所述锁相放大器放大过后的电信号;
曲线处理模块,安装于计算机中,对所述数据采集卡采集和传输来的所述电信号转换为相对应的电压强度,根据所述电压强度与所述待测光信号的光强度两者成正比例关系得到相对应波段的光强度从而绘制出所述待测光信号所处的总波段内的波谱曲线图。
2.根据权利要求1所述的光谱测量系统,其特征在于,还包括:
同步控制模块,安装于计算机中,控制所述单色仪与所述数据采集卡同步开始工作从而保证所述曲线处理模块得到的波普曲线图的准确性。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海理工大学,未经上海理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210177561.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。