[发明专利]双行程机构

说明书

技术领域

本发明涉及一种双行程机构，属于机械技术领域。

背景技术

在线测试ICT（In-Circuit Test）是通过对在线元器件的电性能及电气连接进行测试来检查生产制造缺陷及元器件不良的一种标准测试手段，具有操作简单、快捷迅速、故障定位准确等特点。ICT测试时，需要对一块电路板中的众多器件、连接线路进行测试，通常需要多块单行程的针板。若在同一块针板上设置长度不同的探针，先由长探针与要测试的部分线路或器件接触并进行测试，然后由短探针与要测试的另一部分线路或器件接触进行测试，则不易控制针板的运动行程，若运动行程不精确，则在长探针测试时，短探针也可能与线路或器件接触，影响测试准确性。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种双行程机构，可以精确的控制行程中途的停止位置，为ICT测试提供双行程，使同一块针板上长度不同的两种探针可以分别测试，不影响测试准确性。

为解决上述技术问题，本发明提供一种双行程机构，其特征是，包含垂直设置的上模块和下模块，其中一个模块可以在垂直方向上相对另一个模块运动；

所述上模块包括一平面座和一端与所述平面座铰接可摆动的垂直的摆动块，所述摆动块另一端设置一垂直于所述摆动块平面的滚轴，位于所述铰接轴两侧的所述摆动块与所述平面座之间分别设置一弹簧；

所述下模块中包括一固定座、安装于固定座其中一面上且平行的两个侧板，两个侧板形成一夹持空间；夹持空间中，每个侧板上固定一定位块，两个定位块之间形成一可容纳上模块中垂直的摆动块的空间；

所述定位块的周向包含三个依次相交的面，位于上面的上斜面和位于下面的凹弧面、下斜面，其中，凹弧面可以将沿所述上斜面最高处运动至最低处并滑进该凹弧面中的所述上模块中的滚轴卡住。 

还包含弹簧片，所述弹簧片一端抵靠在所述定位块的上斜面最高处与所述下斜面相交的棱上，所述弹簧片的另一端铰接在一所述夹持空间中的侧板上或设置于侧板上的一固定块上。

所述定位块与所述固定块之间有可容纳上模块上的滚轴通过的空间。

所述上斜面最高处的边与所述下斜面的一边相交，所述下斜面的另一边与所述凹弧面的一边相交，所述凹弧面的另一边与所述上斜面最低处的边相交。

所述两个侧板相对的其中一个面上设置有一凹槽，所述凹槽内设置一可转动的挡片，所述挡片转动时可停留在两个极限位置，第一极限位置为卡在该侧板上设置的所述定位块的凹弧面的另一边与所述上斜面最低处的边相交处；第二极限位置为完全进入该侧板的所述凹槽内。

所述挡片与一穿过所述固定座的转动轴一端连接，由所述转动轴的转动带动所述挡片转动。

所述轴动轴另一端与一手柄连接，所述手柄设置在所述固定座的与所述侧板相异的另一面。

在设置所述手柄的所述固定座的面上还设置有两个限位块，所述限位块用于限制所述手柄的转动范围。

所述弹簧为压缩弹簧。

所述滚轴的长度不大于所述两个侧板间的距离，可容纳于所述夹持空间中，且所述滚轴的长度不小于所述两个定位块间的距离。

本发明所达到的有益效果：

本发明的双行程机构，通过将上模块上的滚轴卡入下模块定位块中的凹弧面中，可以精确的控制行程中途的停止位置，为ICT测试提供双行程，使同一块针板上长度不同的两种探针可以分别测试，不影响测试准确性。

附图说明

图1是本发明的双行程机构中下模块示意图；

图2是图1的分解图；

图3是本发明的双行程机构中上模块示意图；

图4是图3的分解图。

具体实施方式

下面结合附图对本发明作进一步描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本发明的技术方案，而不能以此来限制本发明的保护范围。

如图1-图4所示，本发明的双行程机构中包括下模块1和上模块2，工作时，下模块1与上模块2垂直设置，一个位于下方，一个倒置后位于上方。针板上包含长探针和短探针，针板与用于支撑待测的电路板的平台分别与上模块2、下模块1连接。

本发明的双行程机构可以在单行程和双行程之间切换，当选择双行程运行时，运行过程中提供一个中途停止位，使行程分为第一段行程和第二段行程，在中途停止位停止运行时，由长探针与要测试的部分线路或器件接触并进行测试，测试结束后继续第二段行程，在第二段行程结束时使短探针与要测试的另一部分线路或器件接触，进行测试。本实施例为便于说明均以两个模块正置时的示意图进行结构描述。