[发明专利]3D同步信号相位的调试装置和检测方法有效
申请号: | 201210182859.X | 申请日: | 2012-06-05 |
公开(公告)号: | CN102724538A | 公开(公告)日: | 2012-10-10 |
发明(设计)人: | 王安伟 | 申请(专利权)人: | 深圳TCL新技术有限公司 |
主分类号: | H04N13/04 | 分类号: | H04N13/04;H04N17/04 |
代理公司: | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人: | 胡海国 |
地址: | 518052 广东省深圳市南山*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 同步 信号 相位 调试 装置 检测 方法 | ||
1.一种3D同步信号相位的调试装置,其特征在于,包括:
接收模块,用于接收3D显示设备发送的场同步脉冲信号;
移相处理模块,用于将所述场同步脉冲信号进行移相处理;
输出模块,用于将移相处理后的场同步脉冲信号输出至3D眼镜;
判断模块,当通过3D眼镜左、右眼镜片呈现的3D显示设备所显示的图像包括二分之一左眼图像和二分之一右眼图像时,根据调试装置所显示的移相处理后的场同步脉冲信号的相位,判断3D显示设备与3D眼镜是否同步。
2.如权利要求1所述的调试装置,其特征在于,所述移相处理模块包括:
滤波子模块,用于接收到所述3D显示设备发送的场同步脉冲信号后,对所述场同步脉冲信号进行滤波,得到原始场同步脉冲信号;
场同步信号形成及处理模块,用于对所述原始场同步脉冲信号进行调制,形成场同步信号,并对所述场同步信号进行连续移相处理。
3.如权利要求2所述的调试装置,其特征在于,所述输出模块包括:
场同步脉冲信号形成子模块,用于根据移相处理后的场同步信号的上升沿,形成移相处理后的场同步脉冲信号;
输出子模块,用于将所述移相处理后的场同步脉冲信号输出至3D眼镜。
4.如权利要求3所述的调试装置,其特征在于,所述输出模块还包括:
高频调制子模块,用于将所述移相处理后的场同步脉冲信号进行高频调制。
5.一种3D同步信号相位的检测方法,其特征在于,包括:
调试装置接收3D显示设备发送的场同步脉冲信号;
调试装置将所述场同步脉冲信号进行移相处理,并将移相处理后的场同步脉冲信号输出至3D眼镜;
当通过3D眼镜左、右眼镜片呈现的3D显示设备所显示的图像包括二分之一左眼图像和二分之一右眼图像时,根据调试装置所显示的移相处理后的场同步脉冲信号的相位,判断3D显示设备与3D眼镜是否同步。
6.如权利要求5所述的检测方法,其特征在于,所述调试装置将所述场同步脉冲信号进行移相处理包括:
调试装置接收到所述3D显示设备发送的场同步脉冲信号后,对所述场同步脉冲信号进行滤波,得到原始场同步脉冲信号;
对所述原始场同步脉冲信号进行调制,形成场同步信号,并对所述场同步信号进行连续移相处理。
7.如权利要求6所述的检测方法,其特征在于,所述调试装置将移相处理后的场同步脉冲信号输出至3D眼镜包括:
调试装置根据所述移相处理后的场同步信号的上升沿,形成移相处理后的场同步脉冲信号;
将所述移相处理后的场同步脉冲信号输出至3D眼镜。
8.如权利要求7所述的检测方法,其特征在于,在所述调试装置将移相处理后的场同步脉冲信号输出至3D眼镜之前,还包括:
调试装置将所述移相处理后的场同步脉冲信号进行高频调制。
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