[发明专利]X射线残余应力测试系统校准试块制作方法有效

专利信息
申请号: 201210183436.X 申请日: 2012-06-06
公开(公告)号: CN102706708A 公开(公告)日: 2012-10-03
发明(设计)人: 袁新艳;王海玲;李炎琢 申请(专利权)人: 沈阳飞机工业(集团)有限公司
主分类号: G01N1/28 分类号: G01N1/28
代理公司: 沈阳杰克知识产权代理有限公司 21207 代理人: 杨华
地址: 110034 *** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 射线 残余 应力 测试 系统 校准 制作方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种X射线残余应力测试系统校准试块制作方法,该方法属于一种计量领域。

背景技术

X射线残余应力测试系统国内无溯源,无校准方法,其工作参数涉及的领域宽,包括:温度参数,力学参数,长度参数及无损探伤参数等多个领域,操作过程复杂,该设备主要用于测试金属表面(铁、铝、钛、钢)残余应力的检测,采用X射线检测原理,对金属表面奥氏体、马氏体等应力进行检测。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种X射线残余应力测试系统校准试块制作方法,该方法不仅步骤简单,而且应力小,接近零应力。

为解决以上问题,本发明的具体技术方案如下:一种X射线残余应力测试系统校准试块制作方法,包括以下步骤:

1)采用颗粒直径为1                                               <d<45的无应力铁粉,在真空中对其退火处理;

2)用丙酮将氮纤维素胶合剂稀释为10%的溶液作为粘合剂溶液;

3)将退火后的无应力铁粉撒在显微镜载玻片上,然后在上面均匀滴上粘合剂溶液;

4)再在粘合剂溶液上撒上退火后的无应力铁粉,并用另一个显微镜载玻片扣合;

5)上表面平整后,拿下上面的显微镜载玻片,继续重复3和4步骤,直至试块的厚度为15cm,并且表面平整,将试块晒干即得到X射线残余应力测试系统校准试块。

该X射线残余应力测试系统校准试块制作方法采用上述步骤,可以更好的保证试块的达到最小,接近为零,从而有效的对X射线残余应力测试系统进行校准,保证测量值的准确度。

具体实施方式

一种X射线残余应力测试系统校准试块制作方法,其特征在于包括以下步骤:

1)采用颗粒直径为1<d<45的无应力铁粉,在真空中对其退火处理;

2)用丙酮将氮纤维素胶合剂稀释为10%的溶液作为粘合剂溶液;

3)将退火后的无应力铁粉撒在显微镜载玻片上,然后在上面均匀滴上粘合剂溶液;

4)再在粘合剂溶液上撒上退火后的无应力铁粉,并用另一个显微镜载玻片扣合;

5)上表面平整后,拿下上面的显微镜载玻片,继续重复3和4步骤,直至试块的厚度为15cm,并且表面平整,将试块晒干即得到X射线残余应力测试系统校准试块,如果粘合剂过量导致表面不平整,可以重新使用丙酮湿润表面,使其平整后,再干燥即可。

    该X射线残余应力测试系统校准试块使用时,放置在探头下,测得5次应力值的平均值在±14MPa范围内,则X射线残余应力测试系统为合格产品。

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