[发明专利]实现高温高压的连续流动型微流控芯片及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201210186933.5 申请日: 2012-06-07
公开(公告)号: CN102716771A 公开(公告)日: 2012-10-10
发明(设计)人: 谢飞;王宝军;王玮 申请(专利权)人: 北京大学
主分类号: B01L3/00 分类号: B01L3/00
代理公司: 北京君尚知识产权代理事务所(普通合伙) 11200 代理人: 邵可声
地址: 100871 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 实现 高温 高压 连续 流动 型微流控 芯片 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种连续流动型微流控芯片,其特征在于,包括入口、混合区、加热区、增压区和出口,各部分之间通过微流体通道依次连接;

所述混合区实现反应物的混合;

所述加热区设有加热电阻,提供高温的反应环境;

所述增压区为高流阻区,为所述加热区提供高压环境;

所述加热区和和所述增压区设有测温传感电阻。

2.如权利要求1所述的连续流动型微流控芯片,其特征在于,所述入口为两个,分别输入两种参与反应的液体。

3.如权利要求1或2所述的连续流动型微流控芯片,其特征在于,所述混合区将所述加热区与所述增压区隔开。

4.如权利要求3所述的连续流动型微流控芯片,其特征在于,所述混合区与所述加热区之间,以及所述混合区与所述增压区之间设有隔热槽。

5.如权利要求1所述的连续流动型微流控芯片,其特征在于,在连接所述加热区与所述增压区的通道上设有测温传感电阻,用于辅助了解所述微流控芯片的温度分布。

6.如权利要求1所述的连续流动型微流控芯片,其特征在于,在所述增压区设有加热电阻,用于改变所述增压区的压强提升值。

7.如权利要求1、5或6所述的连续流动型微流控芯片,其特征在于,所述加热电阻和所述传感电阻为Pt电阻。

8.一种连续流动型微流控芯片的制备方法,其步骤包括:

1)对硅片进行光刻和DRIE刻蚀,定义微流体通道图形;

2)通过硅-玻璃阳极键合制作混合区、加热区和增压区的微流体通道;

3)采用等离子体增强化学气相沉积方法淀积SiO2,并在SiO2上剥离制作测温传感电阻和加热电阻;

4)通过光刻和深反应离子刻蚀制作入口和出口。

9.如权利要求8所述的方法,其特征在于,通过光刻和深反应离子刻蚀制作隔热槽。

10.如权利要求8所述的方法,其特征在于,在所述入口处粘合有机玻璃模具。

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