[发明专利]衍射光学元件光学性能的测量装置及测量方法有效

专利信息
申请号: 201210189191.1 申请日: 2012-06-08
公开(公告)号: CN102735428A 公开(公告)日: 2012-10-17
发明(设计)人: 胡中华;朱菁;杨宝喜;肖艳芬;彭雪峰;陈明;曾爱军;黄惠杰 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人: 张泽纯
地址: 201800 上海*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 衍射 光学 元件 性能 测量 装置 测量方法
【权利要求书】:

1.一种衍射光学元件光学性能的测量装置,特征在于:该装置包括照明单元(1)、能量监测单元(2)、待测衍射光学元件固定支架(3)、衍射图样测量单元(4)和能量利用率测量单元(5):

所述的照明单元(1)包括准分子激光器(101)、扩束镜(102)和第一光阑(103);

所述的能量监测单元(2)由第一分光镜(201)和第一激光功率计(202)组成;

所述的衍射图样测量单元(4)由第二分光镜(401)、第一傅里叶变换透镜(402)、衰减片(403)和CCD图像传感器(404)构成;

所述的能量利用率测量单元(5)包括平面反射镜(501)、第二傅里叶变换透镜(502)、光阑插口(503)和第二激光功率计(504),所述的光阑插口(503)供第二光阑设置,使光阑位于所述的第二傅里叶变换透镜的后焦面上;

所述的待测衍射光学元件固定支架(3)是一个供待测衍射光学元件(300)设置固定的支架;

上述元部件的位置关系如下:

沿所述的准分子激光器(101)输出激光的前进方向,依次是所述的扩束镜(102)、光阑(103)、第一分光镜(201)、待测衍射光学元件(300)、第二分光镜(401)、第一傅里叶变换透镜(402)、衰减片(403)和CCD图像传感器(404),在所述的第一分光镜(201)的反射光方向是所述的第一激光功率计(202),在所述的第二分光镜(401)的反射光方向是平面反射镜(501),在该平面反射镜(501)的反射光方向依次是所述的第二傅里叶变换透镜(502)、第二光阑和第二激光功率计(504);

所述的第二傅里叶变换透镜(502)与所述的第一傅里叶变换透镜(402)相同,所述的第一傅里叶变换透镜(402)的前焦面和第二傅里叶变换透镜(502)的前焦面与所述的待测衍射光学元件(300)共平面,所述的CCD图像传感器(404)放置在所述的第一傅里叶变换透镜(402)的后焦面上;所述的光阑插口(503)置于第二傅里叶变换透镜(502)的后焦面上,所述的第二激光功率计(504)紧靠在所述的第二光阑之后;

所述的第一傅里叶变换透镜(402)的焦距f由CCD图像传感器(404)敏感面的宽度w和待测衍射光学元件(300)远场发射角θ按下式确定:

fw2sinθ]]>

所述的第一傅里叶变换透镜的通光孔径D由待测衍射光学元件的有效区域尺寸L×L及待测衍射光学元件远场发射角θ由下式确定:

D2L+2fsinθ.]]>

2.根据权利要求1所述的衍射光学元件光学性能的测量装置,其特征在于所述的光阑(103)直接固定在所述的扩束镜(102)的镜筒上。

3.利用权利要求1所述的测量装置对衍射光学元件的光学性能的测量方法,其特征在于该方法包括下列步骤:

①把待测衍射光学元件(300)固定在所述的衍射光学元件的固定支架(3)上;

②启动所述的准分子激光器(101),所述的CCD图像传感器(404)进行图像采集,对图像进行分析就可以得到衍射图样的强度分布,经测量或计算出零级衍射区域的尺寸和衍射图样区域的尺寸;

③测量零级衍射效率:

根据零级衍射区域的尺寸选择第二光阑的通光孔径的大小使得零级衍射光斑恰好完全通过该光阑的通光孔,插入所述的光阑插口(503)并置于第二傅里叶变换透镜(502)的后焦面上,此时读出所述的第一激光功率计的示数Pin和所述的第二激光功率计的示数P0out,则零级衍射效率为:

η0=2P0outPin*T*R×100%]]>

式中,T为第二傅里叶变换透镜的透过率,R为光线45°入射时平面反射镜(501)的反射率,多次测量取其平均值作为零级衍射效率的最终测量结果;

④测量衍射光斑的能量利用率和高阶衍射效率:

根据衍射图样区域的尺寸选择第二光阑的通光孔径的大小使所述的衍射图样和零级衍射光斑恰好完全通过该光阑的通光孔,插入所述的光阑插口(503)并置于第二傅里叶变换透镜(502)的后焦面上,使零级衍射光斑和衍射图样恰好完全通过第二光阑的通光孔,读取所述的第一激光功率计的示数Pin和所述的第二激光功率计的示数P1out,则零级衍射光斑和待测的衍射图样的总衍射效率η1为:

η1=2P1outPin*T*R100%,]]>

多次测量取其平均值则待测衍射光学元件的能量利用率为:和高阶衍射效率为:

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海光学精密机械研究所,未经中国科学院上海光学精密机械研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210189191.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top