[发明专利]一种薄片类介质厚度检测装置及其方法有效
申请号: | 201210191067.9 | 申请日: | 2012-06-11 |
公开(公告)号: | CN102722933A | 公开(公告)日: | 2012-10-10 |
发明(设计)人: | 罗攀峰;王荣秋;徐朝阳;黎明 | 申请(专利权)人: | 广州广电运通金融电子股份有限公司 |
主分类号: | G07D7/16 | 分类号: | G07D7/16 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 曹志霞 |
地址: | 510000 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 薄片 介质 厚度 检测 装置 及其 方法 | ||
1.一种薄片类介质厚度检测装置,其包括:
一输送辊,用以输送薄片类介质;
一检测辊,与该传输辊对置,用以输送过程中与输送辊一起夹送薄片类介质,并与输送辊之间具有弹性位移;
一传感器,用以获得的检测辊与传感器之间的距离变化值;
一厚度计算单元,根据薄片类介质通过时该传感器获得的检测辊与传感器之间的距离检测值与薄片类介质进入之前该传感器获得的检测辊与传感器之间的标准零值计算出薄片类介质的厚度值;
其特征在于,还包括:
一零值修正单元,用以对上述动态检测零值根据零值修正公式进行修正得到标准零值;
一数据存储单元,用以存储预置距离测量零值以及上述零值修正所需的运行数据。
2.如权利要求1所述的薄片类介质厚度检测装置,其特征在于,所述零值修正公式如下:
bn=(1-t)×bn-1+t×an t∈(0,1)
其中,an为检测第n张薄片类介质厚度时的动态检测零值;
bn表示检测第n张薄片类介质厚度时的标准零值;
bn-1为检测第n-1张薄片类介质厚度时的标准零值;
n为大于0的自然数,当n=1时,即首次检测时,b0=A0,A0为预置距离测量零值。
3.如权利要求2所述的薄片类介质厚度检测装置,其特征在于,所述t取值0.05至0.25之间。
4.如权利要求2或3所述的薄片类介质厚度检测装置,其特征在于,所述t等于0.2。
5.如权利要求4所述的薄片类介质厚度检测装置,其特征在于,还包括一薄片类介质进入判别模块,用以判别是否有薄片类介质将要进行厚度检测。
6.如权利要求1所述的薄片类介质厚度检测装置,其特征在于,在检测辊相对于输送辊的另一侧压置有一板簧以实现检测辊与输送辊之间的弹性位移。
7.如权利要求6所述的薄片类介质厚度检测装置,其特征在于,所述传感器置于板簧上方且与输送辊相对静止。
8.一种薄片类介质厚度检测方法,其包括如下步骤:
S1.获得薄片类介质进入之前检测辊与传感器之间的动态检测零值;
S2.对上述动态检测零值根据零值修正公式进行修正得到标准零值;
S3.获得薄片类介质通过传感器时检测辊与传感器之间的距离检测值;
S4.根据上述距离检测值与标准零值之差计算得出薄片类介质的实际厚度值。
9.如权利要求8所述的薄片类介质厚度检测方法,其特征在于,所述零值修改正公式为:
bn=(1-t)×bn-1+t×an t∈(0,1)
其中,an为检测第n张薄片类介质厚度时的动态检测零值;
bn表示检测第n张薄片类介质厚度时的标准零值;
bn-1为检测第n-1张薄片类介质厚度时的标准零值;
n为大于0的自然数,当n=1时,即首次检测时,b0=A0,A0为预置距离测量零值。
10.如权利要求9所述的薄片类介质厚度检测方法,其特征在于,所述t取值0.05至0.25之间。
11.如权利要求9或10所述的薄片类介质厚度检测方法,其特征在于,所述t等于0.2。
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