[发明专利]线性位置测量系统和确定车厢沿着导轨的绝对位置的方法有效

专利信息
申请号: 201210195618.9 申请日: 2012-06-08
公开(公告)号: CN102818511A 公开(公告)日: 2012-12-12
发明(设计)人: 斯蒂芬·弗雷;克劳斯-迪特尔·戈茨 申请(专利权)人: 施内贝格尔控股公司
主分类号: G01B7/00 分类号: G01B7/00;G01B11/00
代理公司: 北京三幸商标专利事务所 11216 代理人: 刘激扬
地址: 瑞士罗*** 国省代码: 瑞士;CH
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摘要:
搜索关键词: 线性 位置 测量 系统 确定 车厢 沿着 导轨 绝对 方法
【权利要求书】:

1.一种线性位置测量系统(10),用于确定车厢沿着导轨(12)的绝对位置,该系统具有沿着导轨(12)设置的参考标尺(16)和固定在轨道车厢上的扫描仪,其中所述扫描仪被设计用于沿着所述参考标尺(16)扫描参考点(20),其中所述参考点(20)能够被扫描为必要的模拟信号级数(S),该模拟信号级数(S)包括连续的第一和第二信号半波级数(S1、S2),其特征在于所述线性位置测量系统(10)还包括:

a)至少一个阈值存储装置,用于存储第一和第二阈值(SW1、SW1),它们的水平能够相对于彼此而变化地校正,

b)第一比较器,用于将第一信号半波级数(S1)的扫描值与在第一信号半波级数(S1)的分段间隔中的第一阈值(SW1)进行比较,并且:

将那些比第一阈值(SW1)小的第一信号半波级数(S1)的扫描值输出到第一测量值寄存器(MR1)中,用于将那些值存储为第一离散SW1半波字节值,及

将那些比第一阈值(SW1)大的第一信号半波级数(S1)的扫描值输出到第一测量值寄存器(MR1)中,用于将那些值存储为第二离散SW1半波字节值,

c)第二比较器,用于将第二信号半波级数(S2)的扫描值与在第二信号半波级数(S2)中的第二阈值(SW2)进行比较,并且:

将那些比第二阈值(SW2)小的第二信号半波级数(S2)的扫描值输出到第二测量值寄存器(MR2)中,用于将那些值存储为第一离散SW2半波字节值,及

将那些比第二阈值(SW2)大的第二信号半波级数(S2)的扫描值输出到第二测量值寄存器(MR2)中,用于将那些值存储为第二离散SW2半波字节值,

d)第一设置测量值寄存器(MRsoll1),用于存储第一信号半波级数(S1)的分段间隔中的值的设置测量值,和第二设置测量值寄存器(MRsoll2),用于存储第二信号半波级数(S2)的分段间隔中的值的设置测量值,其中所述测量值寄存器(MR1、MR2)和设置测量值寄存器(MRsoll1、MRsoll2)显示相同的字节长度,

e)至少一个逻辑比较模块,用于将第一和第二测量值寄存器(MR1、MR2)的各自内容与第一和第二设置测量值寄存器(MRsoll1、MRsoll2)的内容进行比较,并根据这个比较输出差值,以及

f)容差范围比较器,用于将所述差值与预定的容差范围进行比较,并基于这个比较,如果所述差值在预定的容差范围之内,则获得并输出每个参考点(20)作为理想的参考点。

2.根据权利要求1的线性位置测量系统(10),其中所述参考点(20)被设计为单体永磁体,其各自的磁场级数能够通过扫描仪进行扫描。

3.根据权利要求1的线性位置测量系统(10),其中所述参考点(20)被设计为光学标记,其能够通过扫描仪进行扫描。

4.根据前述权利要求中的一项所述的线性位置测量系统(10),其中所述设置测量值基于至少一个错误检测模拟。

5.根据前述权利要求中的一项所述的线性位置测量系统(10),其中所述第一阈值(SW1)的水平和第二阈值(SW2)的水平各自基于至少一个错误检测模拟。

6.根据前述权利要求中的一项所述的线性位置测量系统(10),其被设计用于基于180度角倍数的参考点来指定扫描时间。

7.根据权利要求6的线性位置测量系统(10),其被设计用于在扫描点角度变化时对参考点进行内插值。

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