[发明专利]热继电器双金属片检测装置

权利要求书

1.一种热继电器双金属片检测装置，用于检测热继电器双金属片的位置状态，所述热继电器包括由若干侧壁定义的腔体，以及位于腔体中的电流触头，其特征在于，所述热继电器双金属片检测装置包括：

探针，所述探针用于与热继电器双金属片配合；

位移传感器，所述位移传感器与所述探针电性连接，所述位移传感器通过所述探针检测热继电器双金属片的位置状态；

显示装置，所述显示装置与所述位移传感器电性连接，用于显示表征所述热继电器双金属片位置状态的计量值；

拨杆，所述拨杆用于与热继电器中电流触头相配合，所述拨杆位置可调。

2.根据权利要求1所述的热继电器双金属片检测装置，其特征在于，当所述探针与热继电器双金属片配合时，所述拨杆在越远离热继电器双金属片检测装置的位置，则所述热继电器中电流触头位移越大。

3.根据权利要求1所述的热继电器双金属片检测装置，其特征在于，该装置还包括预拨杆，所述预拨杆包括一倾斜部，所述预拨杆至少部分的倾斜部位置相较于所述拨杆的位置位于更下方。

4.根据权利要求3所述的热继电器双金属片检测装置，其特征在于，所述拨杆与所述预拨杆平行。

5.根据权利要求3所述的热继电器双金属片检测装置，其特征在于，当所述探针与热继电器双金属片配合时，所述拨杆的轴心线与所述预拨杆的轴心线确定的平面与所述热继电器的一侧壁平行。

6.根据权利要求1所述的热继电器双金属片检测装置，其特征在于，所述位移传感器包括电感式位移传感器、和/或电容式位移传感器、和/或光电式位移传感器、和/或超声波式位移传感器、和/或霍尔式位移传感器。

7.根据权利要求1所述的热继电器双金属片检测装置，其特征在于，所述位移传感器包括直线位移传感器。

8.根据权利要求1所述的热继电器双金属片检测装置，其特征在于，所述显示装置包括显示仪表、和/或电子显示器。