[发明专利]热继电器双金属片检测装置无效
| 申请号： | 201210197921.2 | 申请日： | 2012-06-15 |
| 公开（公告）号： | CN103512518A | 公开（公告）日： | 2014-01-15 |
| 发明（设计）人： | 沈皓然 | 申请（专利权）人： | 苏州工业园区高登威科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/00 | 分类号： | G01B21/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215121 江苏省苏州市工业*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 继电器 双金属 检测 装置 | ||
1.一种热继电器双金属片检测装置，用于检测热继电器双金属片的位置状态，其特征在于，所述装置包括：
探针，所述探针用于与所述热继电器双金属片配合；
位移传感器，所述位移传感器与所述探针电性连接，所述位移传感器通过所述探针检测所述热继电器双金属片的位置状态；
显示装置，所述显示装置与所述位移传感器电性连接，用于显示表征所述热继电器双金属片位置状态的计量值。
2.根据权利要求1所述的热继电器双金属片检测装置，其特征在于，所述探针包括主体部，自所述主体部延伸出的针状部，以及位于所述针状部端部的探头。
3.根据权利要求2所述的热继电器双金属片检测装置，其特征在于，所述探针的数量设置为至少两个。
4.根据权利要求3所述的热继电器双金属片检测装置，其特征在于，所述至少两个探针之间互相平行。
5.根据权利要求3所述的热继电器双金属片检测装置，其特征在于，所述至少两个探针的针状部之间互相平行。
6.根据权利要求1所述的热继电器双金属片检测装置，其特征在于，所述位移传感器包括电感式位移传感器、和/或电容式位移传感器、和/或光电式位移传感器、和/或超声波式位移传感器、和/或霍尔式位移传感器。
7.根据权利要求1所述的热继电器双金属片检测装置，其特征在于，所述位移传感器包括直线位移传感器。
8.根据权利要求1所述的热继电器双金属片检测装置，其特征在于，所述显示装置包括显示仪表、和/或电子显示器。
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