[发明专利]一种标志图像的识别方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种标志图像的识别方法，特别是一种从标志图像数据库中采用基于多参考点直方图矩阵描述的标志图像的识别方法。

背景技术

随着信息技术的飞速发展以及各种数字化设备的大量普及，每天都有大量的图像、视频等多媒体资料产生，面对如此海量的多媒体信息，如何从中识别出自己感兴趣的特定标志已经成为一个亟待解决的问题，具有较高的商业、经济价值和市场前景。

目前存在的标志识别方法主要有基于结构的识别方法和基于统计的识别方法。其中基于结构的识别方法对存在扭曲变形及噪声等退化情况不具有较强的鲁棒性，但其可以较好的捕获到标志的结构细节信息，对于标志的精细匹配起到良好作用；基于统计的标志识别方法正好和基于统计的方法相反，其对扭曲变形及噪声等具有鲁棒性，但不能捕获到标志的结构细节信息。

发明内容

发明目的：本发明所要解决的技术问题是针对现有技术的不足，提供一种标志图像的识别方法，从而从标志图像数据库中快速准确的查找到与输入的待识别标志图像最接近的标志图像。

为了解决上述技术问题，本发明公开了一种标志图像的识别方法，包括以下步骤：

步骤一，输入一个待识别标志图像到标志图像数据库，所述待识别标志图像以及标志图像数据库中的标志图像中都包含若干有效像素点；

步骤二，将标志图像划分为大小相等的网格，计算每个网格的几何中心点，将该几何中心点设置为参考点；把一个标志图像划分为H个网格，对H个网格的参考点依次编号为R₀,R₁,...,R_H-1；

步骤三，遍历一个标志图像中的任意两个像素组成的像素对，并计算每对像素点相对于当前参考点的几何约束特征值，所述几何约束特征值包括角度θ和长度比L；将所有像素对计算出来的约束特征值分别投影到各自的一维坐标系中；长度比L的取值范围为[0,1]，将取值范围[0,1]划分为Q个等值段；角度θ的其取值范围为[0°,180°]，将取值范围[0°,180°]划分为W个等值段；分别统计落在Q个等值段中的长度比L的数量百分比和落在W个等值段中的角度θ的数量百分比，从而构成两个直方图，即为当前参考点对应的局部几何约束分布直方图；

遍历一个标志图像中所有参考点，得到每个参考点对应的局部几何约束分布直方图；

步骤四，将一个标志图像中所有参考点对应的局部几何约束分布直方图进行组合，得到一个标志图像对应的全局几何约束分布矩阵，并对其进行大小归一化；

步骤五，重复步骤二至步骤四，遍历标志待识别标志图像和图像数据库中的每一个标志图像，得到每一个标志图像所对应的全局几何约束分布矩阵；

分别计算待识别标志图像与标志图像数据库中的每一个标志图像的曼哈顿距离作为对应的相似度；

步骤六，按照标志图像间的相似度数值从低到高排序输出对应的标志图像，完成标志图像的识别。

本发明步骤三中，由长度比L和角度θ描述的几何约束特征值的计算如下：

C(R_l)={(L_ij,θ_ij)|i∈[1,S-1],j∈[i+1,S]}，

L_ij=min{|P_iR_l|/|P_jR_l|，|P_jR_l|/|P_iR_l|},L_ij∈[0,1]，

θ_ij=∠P_iR_lP_j，